Estudo dos Perfis pela Teoria DinÃmica da DifraÃÃo de Raios - X
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2012 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFC |
Texto Completo: | http://www.teses.ufc.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=8121 |
Resumo: | CoordenaÃÃo de AperfeiÃoamento de Pessoal de NÃvel Superior |
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info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisEstudo dos Perfis pela Teoria DinÃmica da DifraÃÃo de Raios - XStudy profiles of the Dynamical Theory of Diffraction X-ray2012-07-20Jose Marcos Sasaki41317874900Igor Frota de Vasconcelos45768080368http://lattes.cnpq.br/3613238844850799SÃrgio Luiz MorelhÃo08887808856http://lattes.cnpq.br/1518608573828185 01554742358http://lattes.cnpq.br/9607516142059658Francisco Tiago LeitÃo Muniz Universidade Federal do CearÃPrograma de PÃs-GraduaÃÃo em Engenharia e CiÃncia de MateriaisUFCBRCristalografia CiÃncia dos materiaisCrystallography Material ScienceENGENHARIA DE MATERIAIS E METALURGICACoordenaÃÃo de AperfeiÃoamento de Pessoal de NÃvel SuperiorA teoria dinÃmica da difraÃÃo de raios X Ã uma teoria que ao contrÃrio da teoria cinemÃtica tem sua origem nas equaÃÃes de Maxwell e na lei de Bragg e com um tratamento fÃsico mais completo e adequado levando em consideraÃÃo todas as interaÃÃes entre os campos de onda eletromagnÃticos dentro do cristal e logo, leva em conta tambÃm, as propriedades fÃsicas do meio cristalino. Estas interaÃÃes trazem consigo efeitos que sÃo desprezados na teoria cinemÃtica, teoria mais tradicional e mais comumente utilizada quando se trata de difraÃÃo de cristais pouco espessos. Este trabalho visa calcular os perfis de difraÃÃo pela teoria dinÃmica com o intuito de confirmar e analisar a presenÃa dos efeitos dinÃmicos que, por sua vez, se acentuam com o aumento da espessura da amostra. Esses efeitos sÃo a absorÃÃo anÃmala e os efeitos de extinÃÃo. Os cÃlculos foram feitos com o uso da linguagem de programaÃÃo Fortran 90 aplicados em monocristais de silÃcio, germÃnio, arseneto de gÃlio e fosfeto de Ãndio, com o objetivo de estudar a influÃncia da espessura do cristal e da razÃo entre as partes imaginÃria e real do fator de estrutura, nos perfis de difraÃÃo. Por fim, tendo-se a largura a meia altura, determinados pelos grÃficos dos perfis, em funÃÃo da espessura pÃde-se concluir que a equaÃÃo de Scherrer se aplica bem em cristais pouco espessos, regiÃo de espessura onde os efeitos dinÃmicos sÃo desprezÃveis. http://www.teses.ufc.br/tde_busca/arquivo.php?codArquivo=8121application/pdfinfo:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFCinstname:Universidade Federal do Cearáinstacron:UFC2019-01-21T11:21:10Zmail@mail.com - |
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