Modelo de Ising antiferromagnético em um campo externo: simulação por amostragem entrópica

• Autor(a) principal: Bruno Jeferson Lourenço
• Data de Publicação: 2011
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/1843/BUOS-8MMK4P
• topic: Método de Monte Carlo; Modelo de Ising; Antiferromagnetismo; Sistemas magnéticos; Amostragem entrópica tomográfica; Método de Monte Carlo; Ferromagnetismo; Antiferromagnetismo; Ising, Modelo de; Paramagnetismo; Termodinâmica; Física

Nesse trabalho estudamos o modelo de Ising antiferromagnético na presença de um campo externo na rede quadrada através de um novo método de amostragem, chamado tomographic entropic sampling (amostragem entrópica tomográfica). Esse novo algoritmo de amostragem entrópica se propõe a realizar um passeio completo por todo espaço configuracional, sem a necessidade de utilização de janelas, a fim de obter boas estimativas do número de configurações, , dos estados do sistema em estudo. Tendo em vista esse propósito do algoritmo de amostragem entrópica tomográfica, definimos algumas classes de configurações fundamentais da rede quadrada no espaço energiamagnetização. Tais classes de configurações formam um conjunto básico e fundamental, das quais todas as possíveis configurações do sistema fazem parte com isso podemos ter certeza de que todo espaço configuracional é visitado durante a amostragem. Realizamos estimativas de (L) para L = 10 à 30, com _L = 2. Assim, calculamos as médias microcanônicas e canônicas das quantidades termodinâmicas de interesse. Lançamos mão da análise de escala de tamanho finito para estimar alguns pontos ao longo da linha crítica no plano hT e comparamos esses resultados com uma aproximação teórica, deduzida por Müller- Hartmann e Zittartz, que fornece uma expressão analítica para a linha crítica do modelo de Ising antiferromagnético em um campo externo. Também estudamos os cruzamentos dos cumulantes de Binder do parâmetro de ordem em um ponto crítico. Além disso, em três pontos distintos ao longo da linha crítica, estudamos as propriedades críticas do sistema e estimamos os expoentes críticos associados ao parâmetro de ordem, _, e à susceptibilidade alternada (associada ao parâmetro de ordem), __.