Espectroscopia óptica de pontos quânticos de InAs auto-construídos em matriz de GaAs

• Autor(a) principal: Rogerio Lucio de Almeida
• Data de Publicação: 2001
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/1843/BUBD-9HDNLT
• topic: Espectroscopia óptica; Análise espectral; Física

Neste trabalho nós apresentamos um estudo óptico de multicamadas de pontos quânticos de InAs em matriz de GaAs. Estas amostras semicondutoras de InAs/GaAs com pontos quânticos foram crescidas pela técnica de epitaxia por feixe molecular (MBE). Nós analisamos a influência da cobertura de InAs nas propriedades ópticas dos pontos quânticos formados por este material usando as técnicas de Fotoluminescência e Fotoluminescência de Excitação. Medidas de Microscopia de Força Atômica também foram feitas na amostra para obtermos informações topológicas das ilhas.Nossos resultados revelam que a amostra com uma espessura da cobertura em torno de 2.1 monocamadas de InAs (espessura que ocorre a transição de crescimento coerente para incoerente) apresenta uma linha muito estreita de Fotoluminescência do pontos quânticos (~ 13.7 meV). Isto indica uma estreita distribuição de tamanhos dos pontos quânticos na amostra. Através da Fotoluminescência de Excitação foi possível identificar nos espectros das contribuições devidas aos pontos quânticos e da camada de molhadura (Wetting Layer).