Detalhes bibliográficos
Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
id UFMG_37892fc260e38fcf6a32be1f57f52c6d
oai_identifier_str oai:repositorio.ufmg.br:1843/SLSS-8GQNTX
network_acronym_str UFMG
network_name_str Repositório Institucional da UFMG
repository_id_str
reponame_str Repositório Institucional da UFMG
instacron_str UFMG
institution Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instname_str Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
spelling Antonio Otavio FernandesJosé Augusto Miranda NacifLuiz Filipe Menezes VieiraOmar Paranaiba Vilela NetoJosé Augusto Miranda NacifThiago Sousa Figueiredo Silva2019-08-09T17:09:32Z2019-08-09T17:09:32Z2011-03-25http://hdl.handle.net/1843/SLSS-8GQNTXEste trabalho propõe o uso de dados armazenados em ferramentas de gerência de conguração para rastrear a evolução dos circuitos integrados. Esse rastreamento é feito pela ferramenta EyesOn. Esta ferramenta é um arcabouço de código aberto e projetada para ser extensível, permitindo a adição de novas métricas e integraçãocom outras ferramentas de gerência de conguração. A arquitetura da ferramenta é composta por um núcleo básico de classes que representam as informações manipuladas e que é capaz de armazenar diferentes tipos de métricas e sistemas de controle de versão.Também são apresentados um conjunto de métricas de produto e de processo das etapas de implementação, testes e síntese.Uma contextualização do problema é apresentada por meio de um estudo de caso. Para que fosse possível reconstruir um ambiente de desenvolvimento foi proposta uma infraestrutura na qual os desenvolvedores fornecem dados do desenvolvimento de u0m processador elaborado para o propósito acadêmico. Após a coleta dos dados são apresentados grácos e um mecanismo para indicar propensão a erros, explorando o conceito de localidade temporal.As informações obtidas no histórico de desenvolvimento já provaram ser úteis para a melhoria dos processos e dos produtos de software. Da mesma forma, essas informações podem também ser aplicadas em projetos de hardware. Por meio das informações que são extraídas a cada etapa de um processo de desenvolvimento de circuito integrado, e a cada revisão, esses dados podem contribuir para redução deerros e também para melhoria da qualidade desses processos.We propose the usage of information obtained from conguration management tools stored data to track integrated circuit design evolution. The tracking is performed by the tool EyesOn. It is an open source framework designed to be extensible and to have easy integration with conguration management tools. The framework kernel architectureis composed by classes that represent handled entities and also store metrics and history information. We also present a set of product and process metrics gathered from design implementation, test and synthesis. In order to contextualize the problem a case study is presented. We prepared a development environment where university students developed a processor for academical purposes and sent development data to conguration management tools. After data extraction, some charts and an error proneness indication mechanism, based on temporal locality, are presented. Development history information has been already used to improve software productsand their development processes. We propose that in same direction this kind of information can be also applied to hardware. The information gathered from each design process step can be used to reduce bugs before fabrication and also to improve design process quality.Universidade Federal de Minas GeraisUFMGComputaçãoMétricasPropensão a errosProjeto de circuitos integrados digitaisEvolução de hardwareEyeson: um arcabouço para extração, armazenamento e acompanhamento de métricas de projeto de circuitos integradosinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da UFMGinstname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)instacron:UFMGORIGINALthiagosousafigueiredosilva.pdfapplication/pdf4047595https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/SLSS-8GQNTX/1/thiagosousafigueiredosilva.pdff857b5612b77578e257528cabf842341MD51TEXTthiagosousafigueiredosilva.pdf.txtthiagosousafigueiredosilva.pdf.txtExtracted texttext/plain99083https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/SLSS-8GQNTX/2/thiagosousafigueiredosilva.pdf.txt87b05b4bdfc6597bf6116281a965a652MD521843/SLSS-8GQNTX2019-11-14 10:15:09.964oai:repositorio.ufmg.br:1843/SLSS-8GQNTXRepositório InstitucionalPUBhttps://repositorio.ufmg.br/oaiopendoar:2019-11-14T13:15:09Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)false
_version_ 1813547899366146048