Montagem de posicionador de varredura bidimensional automatizada acoplado a espectrometria de fluorescência de raios X

• Autor(a) principal: Leonardo Santiago Melgaco Silva
• Data de Publicação: 2011
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/1843/MBAM-8MJHMW
• topic: Posicionador XY; Controle e automação; Espectrometria de fluorescência de raios X; Tecnologia nuclear; Controle automatico; Espectrometria de fluorescência; Engenharia nuclear

Este presente trabalho descreve o projeto e a montagem do protótipo de um posicionador de varredura bidimensional automatizada acoplado à espectrometria de fluorescência de raios X. O trabalho tem como objetivo alcançar um equipamento portátil de fácil manuseio e de ampla utilidade na analise de amostras por fluorescência de raios X área da perícia e da pesquisa. A varredura do posicionador bidimensional ocorre por meio de dois motores de passo controlados por um microcontrolador PIC 16F877A, encoder e sensores ópticos. O usuário interage com a mesa XY através de um programa de interface para o sistema operacional Windows, que comunica com o microcontrolador através da porta serial. O sistema de espectrometria de fluorescência incorporado ao posicionador consistiu de um sistema disponibilizado comercialmente pela empresa AMPTEK, onde a fonte primária de excitação da amostra foi uma fonte de 241Am de 59,5 KeV. Testes de resolução e precisão foram realizados no processo de varredura XY e a reprodutibilidade da mesma junto ao kit de espectrometria de fluorescência de raios X. Testes de espectrometria por fluorescência de raios X qualitativa em amostras padrões foram realizados para comprovar a aplicabilidade e versatilidade do projeto. Conclui-se que o protótipo ilustra de forma adequada um possível equipamento portátil para espectrometria de raios X de amostras bidimensionais.