Estudo in-situ de filmes magnéticos ultrafinos por magnetometria Kerr e técnicas de superfície

• Autor(a) principal: Gustavo Fóscolo de Moura Gomes
• Data de Publicação: 2009
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/1843/ESCZ-7YSH5J
• topic: Filmes magnéticos; Filmes ultrafinos; Efeito Kerr; Efeito magneto-optico; Fisica; Magnetometria vetorial; Magnetometro Kerr

Este trabalho tem como objetivo o estudo da magnetometria Kerr aplicada a filmes ultra-finos magnéticos. É descrita a instrumentação do magnetômetro Kerr operando em ultra alto vácuo, assim como as modificações e otimizações realizadas para que se atingisse sensibilidade de monocamada atômica. São apresentadas medidas em amostras com diferentes propriedades magnéticas, p.ex. com exchange bias, sistemas com anisotropia magnética (determinação do eixo fácil/duro) e outros. As amostras preparadas in-situ foram previamente caracterizadas estruturalmente e quimicamente por técnicas de superfície (XPS, LEED, REED e CEMS). Para inclusão do efeito Kerr magneto-óptico nas equações de Maxwell é adicionado um termo no vetor deslocamento devido à força de Lorentz para obter o tensor permissividade elétrica contendo a constante magneto-óptica e as magnetizações relativas (mx, my e mz). Desta forma a informação da magnetização é inclusa nos coefcientes da matriz de reflexão de Fresnel. A intensidade Kerr é calculada para uma série de configurações do magnetômetro Kerr (ângulos dos polarizadores, modulador, etc). Para a separação das 3 componentes da magnetização demonstramos que é necessária a combinação linear de medidas em pelo menos duas diferentes configurações do magnetômetro Kerr. Aplicamos um dos métodos desenvolvidos no sistema FexCo1-x /Pd(100) para o cálculo de mz para diferentes estequiometrias (x=30,50) e com tratamento térmico (annealing) dos filmes.