Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Elisangela Silva Pinto
Data de Publicação: 2009
Tipo de documento: Tese
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFMG
Texto Completo: http://hdl.handle.net/1843/ESCZ-7ZEGNN
Resumo: Neste trabalho serão apresentadas e discutidas as capacidades de utilização das técnicas de Microscopia de Varredura por Sonda (SPM) para a construção de dispositivos na escala nanométrica. O trabalho pode ser dividido em duas partes. Na primeira, a idéia de eletrificacão de contato será explorada através de uma investigação cuidadosa de injeção de carga em filmes isolantes (SiO2 e PMMA). Uma completa rotina para a construção de dispositivos de dados será proposta e discutida. Simples e efetivos meios para escrever (injetar a carga com Microscopia de Força Atômica (AFM)), ler (detectar a carga com Microscopia de Força Elétrica (EFM)), armazenar (manter a carga na superfície da amostra variando as condições ambientes e da superfície da amostra) e apagar as informações (acelerar o processo de descarga) serão apresentados. Na segunda parte do trabalho, a possibilidade inédita de produção de nanoestruturas metálicas através da técnica de AFM, é desenvolvida. Trata-se da redução de íons de metais nobres imersos em uma matriz polimérica. O processo de redução é alcançado quando uma diferença de potencial é aplicada entre uma sonda de AFM e um substrato condutor. Com esse processo de redução é possí­vel produzir localmente nanopartículas de até 10 nm de diâmetro. O processo apresenta um controle total do crescimento das nanopartículas, ou seja, é possível se ter o controle de onde e de quantas nanopartículas reduzirem.
id UFMG_93cbee6f133d6a71acc4f382aafd228f
oai_identifier_str oai:repositorio.ufmg.br:1843/ESCZ-7ZEGNN
network_acronym_str UFMG
network_name_str Repositório Institucional da UFMG
repository_id_str
spelling Bernardo Ruegger Almeida NevesLuiz Orlando LadeiraRicardo Wagner NunesJOSE MARIO CARNEIRO VILELASUKARO OLAVO FERREIRAElisangela Silva Pinto2019-08-13T16:31:06Z2019-08-13T16:31:06Z2009-04-17http://hdl.handle.net/1843/ESCZ-7ZEGNNNeste trabalho serão apresentadas e discutidas as capacidades de utilização das técnicas de Microscopia de Varredura por Sonda (SPM) para a construção de dispositivos na escala nanométrica. O trabalho pode ser dividido em duas partes. Na primeira, a idéia de eletrificacão de contato será explorada através de uma investigação cuidadosa de injeção de carga em filmes isolantes (SiO2 e PMMA). Uma completa rotina para a construção de dispositivos de dados será proposta e discutida. Simples e efetivos meios para escrever (injetar a carga com Microscopia de Força Atômica (AFM)), ler (detectar a carga com Microscopia de Força Elétrica (EFM)), armazenar (manter a carga na superfície da amostra variando as condições ambientes e da superfície da amostra) e apagar as informações (acelerar o processo de descarga) serão apresentados. Na segunda parte do trabalho, a possibilidade inédita de produção de nanoestruturas metálicas através da técnica de AFM, é desenvolvida. Trata-se da redução de íons de metais nobres imersos em uma matriz polimérica. O processo de redução é alcançado quando uma diferença de potencial é aplicada entre uma sonda de AFM e um substrato condutor. Com esse processo de redução é possí­vel produzir localmente nanopartículas de até 10 nm de diâmetro. O processo apresenta um controle total do crescimento das nanopartículas, ou seja, é possível se ter o controle de onde e de quantas nanopartículas reduzirem.The present work can be divided in two parts, where the manipulation and modification capacities of Scanning Probe Microscopy (SPM) techniques are explored. In the first part, the idea of contact electrification aiming at the development of nano-scale data storage deviceshas been explored through a careful investigation of charge injection on insulating films (SiO2 and PMMA) via SPM techniques. A complete route for data storage, showing simple and effective ways to write (inject the charge with an Atomic Force Microscopy (AFM) tip), to read (detect the charge with Electric Force Microscopy (EFM)), to store (keep sample charge by changing ambient and surface conditions) and to erase the information (make the discharge process faster) is proposed and discussed. Results show that monitoring parameters such asambient relative humidity and surface hydrophobic/hydrophilic character enable the control of pattern size, lateral dispersion, and storage time. Models for charge quantification are also presented and discussed. Additionally, it is shown that when a proper bias is applied at the tipor at the substrate during the EFM image, a slow decreasing of the EFM signal is observed. Such effect is carefully investigated both experimentally and theoretically (via computer simulations). In the second part, an innovative process enabling both the controlled growthand positioning of metal nanoparticles (NPs) is reported. Using SPM techniques, metal NPs are directly grown in the region of interest via reduction of metallic ions in a polymer matrix induced by a properly biased SPM-tip. The metallic nature of these NPs is established via Xraydiffraction and UV-VIS spectroscopy experiments. Some initial applications of this process, such as enhanced of Raman spectrums (SERS Surface-Enhanced Raman Spectroscopy) and decoration of carbon nanotubes with metal NPs, are also briefly demonstrated and discussed.Universidade Federal de Minas GeraisUFMGFísicaMicroscopia de varredura por sondaCrescimento de nanopartículas metálicasMateriais dielétricosFilmes isolantesMicroscopia de varredura por sondaCrescimento de nanopartículas metálicasMateriais dielétricosFilmes isolantesInjeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisinfo:eu-repo/semantics/openAccessporreponame:Repositório Institucional da UFMGinstname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)instacron:UFMGORIGINALelisangelas.pinto_tese.pdfapplication/pdf6161200https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/ESCZ-7ZEGNN/1/elisangelas.pinto_tese.pdf6d8aadc7df545cd667d139cf99c05cdeMD51TEXTelisangelas.pinto_tese.pdf.txtelisangelas.pinto_tese.pdf.txtExtracted texttext/plain262192https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/ESCZ-7ZEGNN/2/elisangelas.pinto_tese.pdf.txta1588cccbd971514b4fb11bef9671282MD521843/ESCZ-7ZEGNN2019-11-14 15:23:51.947oai:repositorio.ufmg.br:1843/ESCZ-7ZEGNNRepositório de PublicaçõesPUBhttps://repositorio.ufmg.br/oaiopendoar:2019-11-14T18:23:51Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
title Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
spellingShingle Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
Elisangela Silva Pinto
Microscopia de varredura por sonda
Crescimento de nanopartículas metálicas
Materiais dielétricos
Filmes isolantes
Física
Microscopia de varredura por sonda
Crescimento de nanopartículas metálicas
Materiais dielétricos
Filmes isolantes
title_short Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
title_full Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
title_fullStr Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
title_full_unstemmed Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
title_sort Injeção de cargas em materiais dielétricos e produção de nanopartículas metálicas por técnicas de SPM.
author Elisangela Silva Pinto
author_facet Elisangela Silva Pinto
author_role author
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Bernardo Ruegger Almeida Neves
dc.contributor.referee1.fl_str_mv Luiz Orlando Ladeira
dc.contributor.referee2.fl_str_mv Ricardo Wagner Nunes
dc.contributor.referee3.fl_str_mv JOSE MARIO CARNEIRO VILELA
dc.contributor.referee4.fl_str_mv SUKARO OLAVO FERREIRA
dc.contributor.author.fl_str_mv Elisangela Silva Pinto
contributor_str_mv Bernardo Ruegger Almeida Neves
Luiz Orlando Ladeira
Ricardo Wagner Nunes
JOSE MARIO CARNEIRO VILELA
SUKARO OLAVO FERREIRA
dc.subject.por.fl_str_mv Microscopia de varredura por sonda
Crescimento de nanopartículas metálicas
Materiais dielétricos
Filmes isolantes
topic Microscopia de varredura por sonda
Crescimento de nanopartículas metálicas
Materiais dielétricos
Filmes isolantes
Física
Microscopia de varredura por sonda
Crescimento de nanopartículas metálicas
Materiais dielétricos
Filmes isolantes
dc.subject.other.pt_BR.fl_str_mv Física
Microscopia de varredura por sonda
Crescimento de nanopartículas metálicas
Materiais dielétricos
Filmes isolantes
description Neste trabalho serão apresentadas e discutidas as capacidades de utilização das técnicas de Microscopia de Varredura por Sonda (SPM) para a construção de dispositivos na escala nanométrica. O trabalho pode ser dividido em duas partes. Na primeira, a idéia de eletrificacão de contato será explorada através de uma investigação cuidadosa de injeção de carga em filmes isolantes (SiO2 e PMMA). Uma completa rotina para a construção de dispositivos de dados será proposta e discutida. Simples e efetivos meios para escrever (injetar a carga com Microscopia de Força Atômica (AFM)), ler (detectar a carga com Microscopia de Força Elétrica (EFM)), armazenar (manter a carga na superfície da amostra variando as condições ambientes e da superfície da amostra) e apagar as informações (acelerar o processo de descarga) serão apresentados. Na segunda parte do trabalho, a possibilidade inédita de produção de nanoestruturas metálicas através da técnica de AFM, é desenvolvida. Trata-se da redução de íons de metais nobres imersos em uma matriz polimérica. O processo de redução é alcançado quando uma diferença de potencial é aplicada entre uma sonda de AFM e um substrato condutor. Com esse processo de redução é possí­vel produzir localmente nanopartículas de até 10 nm de diâmetro. O processo apresenta um controle total do crescimento das nanopartículas, ou seja, é possível se ter o controle de onde e de quantas nanopartículas reduzirem.
publishDate 2009
dc.date.issued.fl_str_mv 2009-04-17
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2019-08-13T16:31:06Z
dc.date.available.fl_str_mv 2019-08-13T16:31:06Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/1843/ESCZ-7ZEGNN
url http://hdl.handle.net/1843/ESCZ-7ZEGNN
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Minas Gerais
dc.publisher.initials.fl_str_mv UFMG
publisher.none.fl_str_mv Universidade Federal de Minas Gerais
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UFMG
instname:Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instacron:UFMG
instname_str Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
instacron_str UFMG
institution UFMG
reponame_str Repositório Institucional da UFMG
collection Repositório Institucional da UFMG
bitstream.url.fl_str_mv https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/ESCZ-7ZEGNN/1/elisangelas.pinto_tese.pdf
https://repositorio.ufmg.br/bitstream/1843/ESCZ-7ZEGNN/2/elisangelas.pinto_tese.pdf.txt
bitstream.checksum.fl_str_mv 6d8aadc7df545cd667d139cf99c05cde
a1588cccbd971514b4fb11bef9671282
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UFMG - Universidade Federal de Minas Gerais (UFMG)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1803589319858847744

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