Interferômetros baseados na geometria fractal de Hilbert

• Autor(a) principal: SILVA, Crislane Priscila do Nascimento
• Data de Publicação: 2016
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UFPE
• Texto Completo: https://repositorio.ufpe.br/handle/123456789/29230
• topic: Engenharia Elétrica; Dispositivos de micro-ondas; Microfita; Interferômetro; IFM; Fractal de Hilbert; Miniaturização

Os sistemas de medição instantânea de frequência (IFM, do inglês Instantaneous Frequency Measurement) são amplamente utilizados para fins militares em sistemas eletrônicos de inteligência para a detecção de sinais desconhecidos com velocidade e precisão sem a necessidade de uma varredura de frequência. Além disso, o aumento da quantidade de dispositivos para a comunicação sem fio faz crescer a importância da identificação da frequência de sinais desconhecidos. Receptores convencionais de IFM contêm um amplificador limitador, um divisor de potência, interferômetros, detectores e um conversor analógico-digital. Os interferômetros fornecem diferentes atrasos que criam um padrão de interferência construtivo-destrutiva para a medição instantânea da frequência. A resolução do sistema de IFM depende do comprimento das linhas de atrasos, o que torna, na prática, o principal elemento desse subsistema. Devido a sua propriedade de preenchimento do espaço, a curva fractal de Hilbert é apresentada neste trabalho para a implementação de interferômetros com tamanhos reduzidos. Os interferômetros consistem em dois divisores/combinadores de Wilkinson conectados a duas linhas de microfita com diferentes atrasos; uma linha é uma linha reta (referência) e a outra é a curva de Hilbert em alguma iteração. Quatro interferômetros utilizando essa configuração são aqui propostos para compor um sistema IFM 4 bits, e resultados teóricos, de simulação e práticos são comparados.