Development of a multipurpose biaxial tensile device for in situ structural characterization using synchrotron light

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Bordin, Anderson
Data de Publicação: 2017
Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
Idioma: eng
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/157274
Resumo: O conhecimento das propriedades dos materiais e a elucidação do comportamento mecânico de filmes finos nanoestruturados em comparação com a sua microestrutura permite optimizar as propriedades para aplicação no sector industrial. Desta forma, é possível desenvolver aplicações tecnológicas ou enriquecer dispositivos com novas funcionalidades. O presente trabalho é dedicado ao desenho e fabricação de um dispositivo de tração capaz de esticar filmes finos, demonstrando a influência da tração na microestrutura destes filmes. A referida tração é utilizada para induzir deformações estruturais com alterações nas distâncias interplanares à escala atômica. Este é o procedimento inicial para um longo projeto que tem como objetivo controlar (devido a anisotropia magnetocristalina) a orientação de spin em AFMs uma vez que a direção do alinhamento magnético depende fortemente da direção de deformação à qual filmes finos são submetidos. Neste trabalho, são produzidos filmes finos de AFM (via deposição por sputtering) e um equipamento é construído para estudar sua estrutura atômica sob stress. As propriedades mecânicas, dificilmente acessíveis por outras abordagens, são derivadas da informação microestrutural acessada pela técnica de difração de raio-X. Além disso, são explorados conceitos de engenharia de precisão e estabilidade mecânica pensando em requisitos a serem utilizados no Sirius (novo acelerador síncrotron, em construção).
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