Caracterização de contatos e de largura efetiva de linha em um circuito integrado de teste

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Esperanca, Carlos Gontarski
Data de Publicação: 1991
Outros Autores: Candido, Joao Carlos, Ferreira, Luiz Fernando
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/135495
Resumo: 098
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