Online TOF-SIMS : novas implementações para análise de degradação de materiais

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Battú, Lucas
Data de Publicação: 2019
Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/206636
Resumo: O presente trabalho consiste na implementação de um novo modo de aquisição de dados para um dos sistemas de espectrometria do Laboratório de Implantação Iônica - UFRGS, a técnica de ToF-SIMS. Esse sistema permite o monitoramento da corrente na amostra ao longo de todo o experimento, o que acaba por trazer informações da quantidade de íons que está incidindo na amostra por área. Assim, as curvas de degradação para o material em estudo podem ser obtidas através desse sistema, e sua análise feita a partir dos códigos desenvolvidos com finalidade de automatizar o processo, pois o número de espectros necessários para uma curva de degradação é grande. Por fim, foi obtida a seção de choque de degradação para o policloreto de vinila e para o poliestireno e uma suposição a respeito da definição dos compostos de fragmentação a partir de sua seção de choque específica.
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spelling Battú, LucasGrande, Pedro Luis2020-03-11T04:17:23Z2019http://hdl.handle.net/10183/206636001112975O presente trabalho consiste na implementação de um novo modo de aquisição de dados para um dos sistemas de espectrometria do Laboratório de Implantação Iônica - UFRGS, a técnica de ToF-SIMS. Esse sistema permite o monitoramento da corrente na amostra ao longo de todo o experimento, o que acaba por trazer informações da quantidade de íons que está incidindo na amostra por área. Assim, as curvas de degradação para o material em estudo podem ser obtidas através desse sistema, e sua análise feita a partir dos códigos desenvolvidos com finalidade de automatizar o processo, pois o número de espectros necessários para uma curva de degradação é grande. Por fim, foi obtida a seção de choque de degradação para o policloreto de vinila e para o poliestireno e uma suposição a respeito da definição dos compostos de fragmentação a partir de sua seção de choque específica.The present work consists in the implementation of a new data acquisition system for one of the spectrometry systems of the Laborat´orio de Implanta¸c˜ao Iˆonica - UFRGS, the ToF-SIMS technique. This system allows the monitoring of the current in the sample throughout the experiment, which ultimately provides information on the amount of ions that is affecting the sample per area. Thus, the degradation curves for the material under study can be obtained through this system and its analysis made from the codes developed in order to automate the process, since the number of spectra required for a degradation curve is very large. Finally, the degradation cross section for polyvinyl chloride and polystyrene was obtained and an assumption regarding the definition of fragmentation compounds from their specific cross section was made.application/pdfporFeixes de íonsDegradaçãoRadiação ionizanteAquisição de dadosIon beamsSIMSMaterial analysisDegradation induced by ionizing radiationData acquisitionDegradation cross sectionOnline TOF-SIMS : novas implementações para análise de degradação de materiaisinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/bachelorThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de FísicaPorto Alegre, BR-RS2019Engenharia Físicagraduaçãoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSTEXT001112975.pdf.txt001112975.pdf.txtExtracted Texttext/plain95942http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/206636/2/001112975.pdf.txt4334c8bd82e03a37b77acf725b7c4fb9MD52ORIGINAL001112975.pdfTexto completoapplication/pdf6198567http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/206636/1/001112975.pdfcdc9de6b535bd9b125143e9f3a7bc2a2MD5110183/2066362020-03-12 04:14:30.978969oai:www.lume.ufrgs.br:10183/206636Repositório de PublicaçõesPUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestopendoar:2020-03-12T07:14:30Repositório Institucional da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
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