Estudo do efeito de 'exchange bias' em filmes finos de NiO/NiFe

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Menegotto, Thiago
Data de Publicação: 2002
Outros Autores: Geshev, Julian Penkov, Morrone, Angelo Ribeiro, Driemeier, Carlos Eduardo, Nagamine, Luiz Carlos Camargo Miranda, Schmidt, Joao Edgar
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/56312
Resumo: 281
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