Teste de circuitos a capacitores chaveados usando seções passa-tudo

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Petraglia, Antônio
Data de Publicação: 2004
Outros Autores: Petraglia, Mariane Rembold, Canive, Jorge Morales
Tipo de documento: Outros
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFRJ
Texto Completo: http://hdl.handle.net/11422/1612
Resumo: Em 11/09/2014: Anuidade de pedido de patente de invenção no prazo ordinário.
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