Espectrometria de raios X de um sistema de microtomografia por transmissão
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2019 |
Tipo de documento: | Trabalho de conclusão de curso |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional da UFRJ |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/11422/17859 |
Resumo: | A produção de raios X é de fundamental importância em diversas aplicações, entre essas aplicações está a técnica de microtomografia. A microtomografia computadorizada (microCT) é essencial para a condução de estudos em colaboração com diferentes áreas como industrial, odontológica, arqueológica e biológica/médica. Para melhor entender os espectros gerados por um tubo de raios X que compõe um sistema de microtomografia, foram obtidos os espectros de um tubo de raios X de 300 kV que faz parte do tomógrafo v|tome|x m fabricado pela General Eletric. Espectros não filtrados foram levantados para voltagens de 20 a 80 kV, e espectros filtrados com voltagens de 40 a 120 kV. Como resultado, os valores da energia média de cada um dos feixes de raios X filtrados e não filtrados de 40 a 120 kV foram obtidos. Esses valores, assim como os valores da atenuação que cada filtro gerou nos espectros de 40 a 70 kV, foram calculados baseados nas informações contidas nos espectros. Para compor os filtros foram usados filtros físicos metálicos de alumínio e cobre. Todos espectros foram obtidos usando um detector semicondutor, modelo XR-100CdTe, fabricado pela Amptek. |
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A microtomografia computadorizada (microCT) é essencial para a condução de estudos em colaboração com diferentes áreas como industrial, odontológica, arqueológica e biológica/médica. Para melhor entender os espectros gerados por um tubo de raios X que compõe um sistema de microtomografia, foram obtidos os espectros de um tubo de raios X de 300 kV que faz parte do tomógrafo v|tome|x m fabricado pela General Eletric. Espectros não filtrados foram levantados para voltagens de 20 a 80 kV, e espectros filtrados com voltagens de 40 a 120 kV. Como resultado, os valores da energia média de cada um dos feixes de raios X filtrados e não filtrados de 40 a 120 kV foram obtidos. Esses valores, assim como os valores da atenuação que cada filtro gerou nos espectros de 40 a 70 kV, foram calculados baseados nas informações contidas nos espectros. Para compor os filtros foram usados filtros físicos metálicos de alumínio e cobre. Todos espectros foram obtidos usando um detector semicondutor, modelo XR-100CdTe, fabricado pela Amptek.porUniversidade Federal do Rio de JaneiroUFRJBrasilEscola PolitécnicaCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA NUCLEARraios XespectroespectrometriamicroCTmicrotomografiaEspectrometria de raios X de um sistema de microtomografia por transmissãoX-ray spectrometry from a transmission microCT systeminfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/bachelorThesisabertoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFRJinstname:Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)instacron:UFRJORIGINALmonopoli10028956-min.pdfmonopoli10028956-min.pdfapplication/pdf4632242http://pantheon.ufrj.br:80/bitstream/11422/17859/1/monopoli10028956-min.pdfb02caed3fc2edab705982dab16a1c45dMD51LICENSElicense.txtlicense.txttext/plain; charset=utf-81853http://pantheon.ufrj.br:80/bitstream/11422/17859/2/license.txtdd32849f2bfb22da963c3aac6e26e255MD5211422/178592023-11-30 00:03:12.254oai:pantheon.ufrj.br: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Repositório de PublicaçõesPUBhttp://www.pantheon.ufrj.br/oai/requestopendoar:2023-11-30T03:03:12Repositório Institucional da UFRJ - Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ)false |
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A produção de raios X é de fundamental importância em diversas aplicações, entre essas aplicações está a técnica de microtomografia. A microtomografia computadorizada (microCT) é essencial para a condução de estudos em colaboração com diferentes áreas como industrial, odontológica, arqueológica e biológica/médica. Para melhor entender os espectros gerados por um tubo de raios X que compõe um sistema de microtomografia, foram obtidos os espectros de um tubo de raios X de 300 kV que faz parte do tomógrafo v|tome|x m fabricado pela General Eletric. Espectros não filtrados foram levantados para voltagens de 20 a 80 kV, e espectros filtrados com voltagens de 40 a 120 kV. Como resultado, os valores da energia média de cada um dos feixes de raios X filtrados e não filtrados de 40 a 120 kV foram obtidos. Esses valores, assim como os valores da atenuação que cada filtro gerou nos espectros de 40 a 70 kV, foram calculados baseados nas informações contidas nos espectros. Para compor os filtros foram usados filtros físicos metálicos de alumínio e cobre. Todos espectros foram obtidos usando um detector semicondutor, modelo XR-100CdTe, fabricado pela Amptek. |
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