Caracterização de um sistema de radiação X por espectrometria

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Potiens, Maria da Penha Albuquerque
Data de Publicação: 2004
Outros Autores: Maia, Ana Figueiredo, Vivolo, Vitor, Caldas, Linda Viola Ehlin
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFS
Texto Completo: https://ri.ufs.br/handle/riufs/493
Resumo: Foi realizada a espectrometria do sistema de radiação X, marca SIEMENS, modelo Stabilipan, pertencente ao Laboratório de Calibração de Instrumentos do IPEN. Este sistema será utilizado para a calibração de instrumentos de medidas de radioproteção e de radiodiagnóstico em sistemas de radiação X. A espectrometria foi realizada variando a tensão aplicada ao tubo de 60 a 150 kV. Para se diminuir o empilhamento de pulsos presente no fim dos espectros, foram adicionados filtros de alumínio na saída do feixe de radiação X.
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