Uma metodologia bayesiana para estudos de confiabilidade na fase de projeto: aplicação em um produto eletrônico

• Autor(a) principal: Ramírez Pongo,Ruth Myriam
• Data de Publicação: 1997
• Outros Autores: Bueno Neto,Pedro Rodrigues
• Tipo de documento: Artigo
• Idioma: por
• Título da fonte: Gestão & Produção
• Texto Completo: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0104-530X1997000300005
• topic: confiabilidade; estatística bayesiana; qualidade; taxa de falha; opinião de especialista

Hoje em dia as indústrias têm de colocar seus produtos em um mercado altamente competitivo, e as pressões, visando eficiência do programa de testes e do ciclo de desenvolvimento de um produto, são cada vez maiores. Neste contexto, os métodos estatísticos clássicos (baseados na teoria de amostragem), usados para analisar a confiabilidade de um produto, mostram-se cada vez menos eficientes, enquanto que os métodos bayesianos são vistos favoravelmente e seu uso começa a ser uma alternativa necessária. Para avaliar o desempenho de um item, que possui uma taxa de falhas muito baixa, as técnicas estatísticas clássicas exigem tamanhos grandes de amostra e tempo de teste longo, principalmente quando a tecnologia do produto limita o fator de aceleração, como é o caso dos produtos eletrônicos, por exemplo. A metodologia, proposta neste artigo, combina resultados de testes, que são realizados rotineiramente durante o ciclo de desenvolvimento, com informação adicional relevante e útil ao estabelecimento da confiabilidade do equipamento. Com o objetivo de ilustrar a metodologia, esta é aplicada em um equipamento eletrônico, cuja confiabilidade foi estabelecida, durante sua fase de projeto, a partir das confiabilidades de seus componentes, utilizando dados de teste por atributo e incorporando o julgamento da equipe de desenvolvimento do produto.