Investigação de Padrões de Subamostragem em Métrica de Similaridade de Imagem

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Seidel, Ismael
Data de Publicação: 2011
Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
Título da fonte: Repositório Institucional da UFSC
Texto Completo: https://repositorio.ufsc.br/handle/123456789/184140
Resumo: TCC (graduação) - Universidade Federal de Santa Catarina. Centro Tecnológico. Curso de Ciências da Computação.
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