Análise comparativa da topografia e presença de impurezas de implantes dentais com superfície texturizada por meio de microscopia eletrônica de varredura (MEV)

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Castro, Kavio Narciso de Oliveira
Data de Publicação: 2004
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFSC
Texto Completo: http://repositorio.ufsc.br/xmlui/handle/123456789/86987
Resumo: Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro de Ciências da Saúde. Programa de Pós-Graduação em Odontologia.
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