Aplicação da técnica de Elipsometria de Emissão para caracterização de materiais luminescentes

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Alliprandini Filho, Paulo
Data de Publicação: 2012
Tipo de documento: Tese
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UFU
Texto Completo: https://repositorio.ufu.br/handle/123456789/15605
https://doi.org/10.14393/ufu.te.2012.6
Resumo: In this work we demonstrated the potential of the emission ellipsometry in the scope of the Stokes theory for electromagnetic field to the photophysics study of luminescent materials, in addition we introduce a new methodology using an achromatic quarter-wave plate. Moreover, the use of linearly polarized light allowed \"selectively\" the study of various photophysical processes, such as the processes related to energy transfer. The use of this technique becomes possible to completely characterize the polarization state of the emitted light for these materials. We show that is possible with the emission ellipsometry study the molecular anisotropy, phase transition, energy transfer processes and solvation. We also verified that the emission ellipsometry technique allows the determination of the molecular alignment direction for anisotropic fluorescent systems, calculate the anisotropy and emission dissymmetry factor. We investigated the emission of dyes dissolved in liquid crystals, showing the effects of molecular alignment on these absorption and emission properties. In addition, we determine the direction of alignment of liquid crystals and the phase transition temperature using the emission ellipsometry technique. We study the emission of poly[2-methoxy-5-((20-ethylhexyl)oxy)-1,4-phenylenevinylene] (MEHPPV) in solution and observed a partially polarized emission, surprising result for an isotropic and homogeneous media and this result is associated with the processes of molecular diffusion. Another material studied was the poly(p-phenylene vinylene) (PPV) where we observed the effect of concentration and size of the counter-ion in casting films, showing that the emission ellipsometry technique allowed to study the carrier diffusion and/or energy transfer processes dependent on the counter-ion. Finally, using the emission ellipsometry technique it was possible investigate the solvents and methacrylates effects on the carrier diffusion and/or energy transfer processes.
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We show that is possible with the emission ellipsometry study the molecular anisotropy, phase transition, energy transfer processes and solvation. We also verified that the emission ellipsometry technique allows the determination of the molecular alignment direction for anisotropic fluorescent systems, calculate the anisotropy and emission dissymmetry factor. We investigated the emission of dyes dissolved in liquid crystals, showing the effects of molecular alignment on these absorption and emission properties. In addition, we determine the direction of alignment of liquid crystals and the phase transition temperature using the emission ellipsometry technique. We study the emission of poly[2-methoxy-5-((20-ethylhexyl)oxy)-1,4-phenylenevinylene] (MEHPPV) in solution and observed a partially polarized emission, surprising result for an isotropic and homogeneous media and this result is associated with the processes of molecular diffusion. Another material studied was the poly(p-phenylene vinylene) (PPV) where we observed the effect of concentration and size of the counter-ion in casting films, showing that the emission ellipsometry technique allowed to study the carrier diffusion and/or energy transfer processes dependent on the counter-ion. Finally, using the emission ellipsometry technique it was possible investigate the solvents and methacrylates effects on the carrier diffusion and/or energy transfer processes.Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível SuperiorDoutor em FísicaNeste trabalho demonstramos as potencialidades da técnica de elipsometria de emissão no escopo da teoria de Stokes do campo eletromagnético para o estudo fotofísico de materiais luminescentes, além de introduzir uma nova metodologia utilizando um quarto de onda acromático. Ainda mais, a utilização de luz linearmente polarizada permitiu seletivamente o estudo de vários processos fotofísicos, tais como, os processos relacionados à transferência de energia. A utilização desta técnica torna possível caracterizar completamente o estado de polarização da luz emitida por estes materiais. Mostramos que é possível com a elipsometria de emissão estudar a anisotropia molecular, transição de fase, processos de transferência de energia e solvatação. Verificamos, também, que a técnica de elipsometria de emissão permite determinar a direção do alinhamento molecular de sistemas fluorescentes anisotrópicos, calcular o fator de anisotropia e de assimetria da emissão. Investigamos a emissão de corantes dissolvidos em cristais líquidos, mostrando os efeitos do alinhamento molecular sobre as propriedades de absorção e emissão dos mesmos. Além disso, determinamos a direção de alinhamento dos cristais líquidos e a temperatura de transição de fase destes através da técnica de elipsometria de emissão. Estudamos a emissão do poly[2-metóxi-5-(2-etilhexilóxi)-1,4-fenilenovinileno], ou seja, o MEHPPV, em solução e observamos uma emissão parcialmente polarizada, resultado surpreendente para um meio homogêneo e isotrópico, sendo este resultado associado aos processos de difusão molecular. Outro material estudado foi o poli(p-fenilenovinileno), ou PPV, onde verificamos o efeito da concentração e do tamanho do contra-íon em filmes casting, mostrando que a técnica de elipsometria de emissão permitiu estudar os processos de transferência de energia e/ou difusão dos portadores de carga dependentes do contra-íon. Finalmente, através da técnica de elipsometria de emissão foi possível investigar os efeitos dos solventes e das matrizes poliméricas nos processos de transferência de energia e/ou difusão dos éxcitons.Universidade Federal de UberlândiaBRPrograma de Pós-graduação em FísicaCiências Exatas e da TerraUFUMarletta, Alexandrehttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4798987U6Souza, Fabrício Macedo dehttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4768733D8Dantas, Noelio Oliveirahttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4790290P3Cury, Luiz Albertohttp://buscatextual.cnpq.br/buscatextual/visualizacv.do?id=K4781114D5Duarte, José LeonilAlliprandini Filho, Paulo2016-06-22T18:42:55Z2012-05-182016-06-22T18:42:55Z2012-02-07info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfapplication/pdfALLIPRANDINI FILHO, Paulo. Aplicação da técnica de Elipsometria de Emissão para caracterização de materiais luminescentes. 2012. 329 f. Tese (Doutorado em Ciências Exatas e da Terra) - Universidade Federal de Uberlândia, Uberlândia, 2012. DOI https://doi.org/10.14393/ufu.te.2012.6https://repositorio.ufu.br/handle/123456789/15605https://doi.org/10.14393/ufu.te.2012.6porinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UFUinstname:Universidade Federal de Uberlândia (UFU)instacron:UFU2022-09-28T21:52:45Zoai:repositorio.ufu.br:123456789/15605Repositório InstitucionalONGhttp://repositorio.ufu.br/oai/requestdiinf@dirbi.ufu.bropendoar:2022-09-28T21:52:45Repositório Institucional da UFU - Universidade Federal de Uberlândia (UFU)false
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