Eletrodos de porta MOS planar e 3D baseados em TiN obtido por evaporação de Ti e nitretação por plasma ECR

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Carnio, Carlos Vinícius, 1990-
Data de Publicação: 2018
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Texto Completo: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1634793
Resumo: Orientador: José Alexandre Diniz
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spelling Eletrodos de porta MOS planar e 3D baseados em TiN obtido por evaporação de Ti e nitretação por plasma ECRTiN planar and 3D MOS gate electrodes obtained by Ti e-beam evaporation and ECR plasma nitridationNitreto de titânioTitanium nitrideOrientador: José Alexandre DinizDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Elétrica e de ComputaçãoResumo: O objetivo desse trabalho é a obtenção de filmes ultrafinos de nitreto de titânio (TiN), com espessuras inferiores a 10 nm, e sua utilização na fabricação de dispositivos planares, na estrutura de capacitores e na porta de transistores CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor), como também na tecnologia 3D (3 Dimensões) com FinFETs (Fin Field-Effect Transistors). Esse filme é fabricado por um método alternativo, através da evaporação de camadas nanométricas (1 nm e 2 nm) de Ti por feixe de elétrons seguida por nitretação por plasma ECR (Electron Cyclotron Resonance) de nitrogênio (N2). O TiN é utilizado como metal refratário na elaboração de três diferentes eletrodos de porta: Poli-Si n+/TiN, NiSi/TiN e Al/TiN... O resumo poderá ser visualizado no texto completo da tese digitalAbstract: The objective of this work is to obtain ultrathin titanium nitride (TiN) films with thicknesses lower than 10 nm and their use in the manufacture of planar devices, capacitor structures and the Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS), as well as 3D (3 Dimensions) technology with FinFETs (Fin Field-Effect Transistors). This film is manufactured by an alternative method, through the evaporation of nanometric layers (1 nm and 2 nm) of Ti by electron beam followed by Electron Cyclotron Resonance (ECR) plasma nitriding of Nitrogen (N2). TiN is used as a refractory metal in the elaboration of three different gate electrodes: Poly-Si n + / TiN, NiSi / TiN and Al / TiN... The abstract is available with the full electronic documentMestradoEletrônica, Microeletrônica e OptoeletrônicaMestre em Engenharia ElétricaCAPES[s.n.]Diniz, José Alexandre, 1964-Teixeira, Ricardo CotrinManêra, Leandro TiagoUniversidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia Elétrica e de ComputaçãoPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASCarnio, Carlos Vinícius, 1990-20182018-08-23T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdf1 recurso online (74 p.) : il., digital, arquivo PDF.https://hdl.handle.net/20.500.12733/1634793CARNIO, Carlos Vinícius. Eletrodos de porta MOS planar e 3D baseados em TiN obtido por evaporação de Ti e nitretação por plasma ECR. 2018. 1 recurso online (74 p.) Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1634793. Acesso em: 3 set. 2024.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/1061845Requisitos do sistema: Software para leitura de arquivo em PDFporreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2018-11-30T16:19:12Zoai::1061845Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2018-11-30T16:19:12Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
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