Avaliação da espessura e contaminantes da camada de oxido de titanio de diferentes marcas comerciais de implantes dentais osseointegraveis : analise por espectroscopia de fotoeletrons excitada por raios-X (XPS)

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Januario, Alessandro Lourenço
Data de Publicação: 2001
Tipo de documento: Tese
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Texto Completo: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1590288
Resumo: Orientador : Francisco Humberto Nociti Junior
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Os implantes esterelizados pelos fabricantes foram removidos de suas embalagens originais e imediatamente submetidos a análise por espectroscopia de fotoelétrons excitada por raios-X (XPS). As amostras relativas aos implantes do grupo A e do grupo E apresentaram maiores espessuras, com média de 14,8 :!: 2,96 e 11,0 :!: 3,0 nm respectivamente. Os demais implantes, grupo B, grupo C e grupo D mostraram espessuras muito semelhantes, com média de 6,3 :!: 0,49; 6,0 :!: 0,14 e 6,3 :!: 0,35 nm respectivamente. As análises realizadas mostraram a presença de Ti e O em todos implantes analisados. Em termos de contaminantes, os implantes do grupo A apresentaram apenas carbono, sendo que na superfície dos implantes dos grupos B, C , D e E também observou-se a presença de contaminantes inorgânicos. Os resultados obtidos, sob as condições experimentais apresentadas, mostraram que as amostras relativas aos implantes do grupo A, além de apresentarem o menor percentual de contaminantes orgânicos, não apresentaram nenhum tipo de contaminante inorgânico. As amostras relativas aos implantes do grupo B, apesar de terem apresentados as menores concentrações de contaminantes inorgânicos, foram as que tiveram maior percentual de contaminantes orgânicos (carbono). As amostras relativas aos implantes do grupo E apresentaram a maior variação, em termos qualitativos, de contaminantes inorgânicosAbstract: he aim of present study was to evaluate the presence of chemical elements as well as the thickness of titanium oxide layer from five dental implants.Eleven titanium implants (3.75 x 10 mm) were obtained from their respective suppliers and randomly distributed into five groups: group A: Nobel Biocare (n=2), group S: 31 (n=2), group C: Conexão (n=2), group D: AS Technology (n=2) and group E: Napio Implant System (n=3). The implants were analyzed by electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA). The mean thickness of the titanium oxide layer for group E and A was 11.0 (+/-3,0) and 14.8 (+/-2,96) nm, respectively. The results for groups S, C and D were 6.3 (+/-0,49); 6.0 (+/-0,14) and 6.3 (+/-0,35)nm, respectively. The chemical analysis showed the presence of Ti and O in ali samples. Regarding the contamination of titanium oxide layer, the implants from group A revealed only carbon, while the implants from groups S, C, D and E showed the presence of inorganic contaminants as well. It can be concluded that: 1) implants from group A presented the smallest percentage of organic contaminants and no inorganic contaminants; 2) implants from group S presented the smallest inorganic contaminants percentage, but had the highest organic contaminants percentage and 3) the implants from group E presented the biggest variation of the inorganic contaminantsDoutoradoPeriodontiaDoutor em Clínica Odontológica[s.n.]Nociti Junior, Francisco Humberto, 1967-Sallum, Enílson AntonioLima, Fernando Reno deSampaio, Jose Eduardo CezarToledo, Sérgio deUniversidade Estadual de Campinas. Faculdade de Odontologia de PiracicabaPrograma de Pós-Graduação em Clínica OdontológicaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASJanuario, Alessandro Lourenço20012001-08-17T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisapplication/pdf67p. : il.(Broch.)https://hdl.handle.net/20.500.12733/1590288JANUARIO, Alessandro Lourenço. Avaliação da espessura e contaminantes da camada de oxido de titanio de diferentes marcas comerciais de implantes dentais osseointegraveis: analise por espectroscopia de fotoeletrons excitada por raios-X (XPS). 2001. 67p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Odontologia de Piracicaba, Piracicaba, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1590288. Acesso em: 14 mai. 2024.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/209630porreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2017-02-18T03:22:34Zoai::209630Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2017-02-18T03:22:34Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
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