Analise da oxidação termica de filmes de Au-Nb por espectroscopia de fotoeletrons de raios-X (XPS) e espectroscopia de eletrons Auger (AES)

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Picolo, Wagner Alexandre
Data de Publicação: 1992
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)
Texto Completo: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1581562
Resumo: Orientador: Vitor Baranauskas
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spelling Analise da oxidação termica de filmes de Au-Nb por espectroscopia de fotoeletrons de raios-X (XPS) e espectroscopia de eletrons Auger (AES)EspectoscopiaOrientador: Vitor BaranauskasDissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia EletricaResumo: O estudo de filmes de Nb e de seus óxidos deve-se sobretudo às suas aplicações em dispositivos e fios super-condutores. O Nb nativo oxida-se rapidamente no ar formando-se uma superfície rugosa de "dentes" de 'Nb IND. 2¿¿O IND. 5¿ , que é um dielétrico, o que degrada as propriedades do material para aplicações em supercondutividade. Neste trabalho estudamos a possibilidade da utilização de um filme passivamente superior de Au, com o objetivo de transformar a fase 'Nb IND. 2¿¿O IND. 5¿ em óxidos de menor estequiometria como o 'Nb IND. 2¿O e o NbO, que são supercondutores. As amostras foram recozidas em atmosfera ambiente na faixa de temperatura de 300-800 graus C e em tempos de 15-45 min. Através das técnicas de Espectroscopia de Fotoelétrons de Raios-x (XPS) e Espectroscopia de Elétrons Auger (AES) pode-se observar que o filme de Au atua como barreira à oxidação até a temperatura de 500 graus C, ocorrendo nestes processos a redistribuição de oxigênio no Nb. Até esta temperatura filme mantém sua estrutura de camadas. Em 800 graus C, ocorre o a ruptura de barreira e rápida oxidação do Nb, com ação da estrutura de camadas. A medida de resistividade mostra que os filmes recosidos a esta temperatura são dielétricos, provavelmente 'Nb IND. 2¿¿O IND. 5¿Abstract: Not informed.MestradoMestre em Engenharia Elétrica[s.n.]Baranauskas, Vitor, 1952-2014Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP). Faculdade de Engenharia ElétricaPrograma de Pós-Graduação em Engenharia ElétricaUNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINASPicolo, Wagner Alexandre19921992-03-05T00:00:00Zinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdf[77] f. : il.(Broch.)https://hdl.handle.net/20.500.12733/1581562PICOLO, Wagner Alexandre. Analise da oxidação termica de filmes de Au-Nb por espectroscopia de fotoeletrons de raios-X (XPS) e espectroscopia de eletrons Auger (AES). 1992. [77] f. Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica, Campinas, SP. Disponível em: https://hdl.handle.net/20.500.12733/1581562. Acesso em: 2 set. 2024.https://repositorio.unicamp.br/acervo/detalhe/76749Publicação FEEporreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instname:Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)instacron:UNICAMPinfo:eu-repo/semantics/openAccess2022-04-29T17:15:00Zoai::76749Biblioteca Digital de Teses e DissertaçõesPUBhttp://repositorio.unicamp.br/oai/tese/oai.aspsbubd@unicamp.bropendoar:2022-04-29T17:15Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP) - Universidade Estadual de Campinas (UNICAMP)false
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