Análise estrutural e morfológica de filmes finos de óxidos avançados

• Autor(a) principal: Noé, Gustavo dos Santos
• Data de Publicação: 2023
• Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UNESP
• Texto Completo: https://hdl.handle.net/11449/252131
• topic: Williamson-Hall (W-H); X-ray diffraction; Difração de raios X; Y2O3; TiO2

O presente trabalho destaca a significativa importância da caracterização estrutural de materiais por meio de técnicas de difração de raios X. Como calibração da técnica foi realizado medidas de óxido de ítria (Y2O3) e como exemplo de utilização, foi aplicado o método para a análise estrutural de filmes de dióxido de titânio (TiO2). A caracterização precisa de materiais é crucial para compreender e otimizar suas propriedades, desempenhando um papel fundamental em diversas áreas, desde desenvolvimento de novos materiais até o controle de qualidade em processos industriais. No contexto específico deste estudo, o foco recai sobre o uso de difração de raios X, uma técnica valiosa para investigar a estrutura cristalina de materiais. O trabalho aborda também uma etapa de calibração do equipamento de difração de raios X, realizada para verificar a confiabilidade dos dados obtidos durante as análises. Esta fase mostrou que os dados de posição e largura de picos do difratômetro necessitam de calibração para garantir resultados precisos e interpretações corretas das informações estruturais. Com ênfase na análise de Williamson-Hall, a pesquisa concentrou-se na extração de características estruturais específicas do composto TiO2. Esse composto, o dióxido de titânio, é amplamente utilizado em diversas aplicações, tornando a compreensão de suas propriedades estruturais de suma importância para a melhoria contínua de sua utilização em diferentes campos científicos e industriais.