Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Panzo, Eduardo Canga
Data de Publicação: 2024
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UNESP
Texto Completo: https://hdl.handle.net/11449/256150
Resumo: Nesta dissertação de mestrado será feito um estudo sobre dispositivos de alta mobilidade de elétrons (HEMTs) fabricados a partir de uma heterojunção de AlGaN/GaN (Nitreto de Gálio e Alumínio/Nitreto de Gálio). Estes transistores têm se tornado cada vez mais importantes no campo da eletrônica de potência. Eles oferecem várias vantagens em relação a outros dispositivos semicondutores como alta velocidade de comutação, alta potência de saída, alta eficiência energética, alta mobilidade de portadores de carga, alta densidade de elétrons, alta resistência térmica e capacidade de operar em altas frequências, especialmente na faixa de radiofrequência, tornando-os ideais para aplicações em sistemas de comunicação sem fio, como satélites, radares e redes móveis de geração 5G. Devido às suas vantagens, estes dispositivos têm sido amplamente adotados em uma variedade de aplicações incluindo amplificadores de potência de radiofrequência, dispositivos de comutação de alta velocidade, fontes de alimentação de alta eficiência, sistemas de iluminação de estado sólido (LEDs) e conversores de energia. Uma vez que a mobilidade é um dos parâmetros que caracteriza a eficiência do HEMT. Este trabalho apresenta um estudo sobre a mobilidade dos elétrons em HEMTs de AlGaN/GaN em função de diversos aspectos como comprimento e largura do canal, temperatura, tensões de porta e de dreno e variações nos diferentes processos de fabricação dos respectivos dispositivos. Os resultados mostram que a mobilidade dos elétrons é maior em HEMTs com maior largura e comprimento de canal. Por outro lado, revelou que a mobilidade dos elétrons é menor com o aumento da temperatura e tensão de dreno. Verificou-se também que a mobilidade é maior em dispositivos desenvolvidos com 2 implantes ativos. Esses resultados destacam a importância de controlar tais características para obter maior mobilidade dos elétrons.
id UNSP_0c26d1d5fd526667625d03528755e8f2
oai_identifier_str oai:repositorio.unesp.br:11449/256150
network_acronym_str UNSP
network_name_str Repositório Institucional da UNESP
repository_id_str 2946
spelling Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaNStudy of electron mobility in HEMTs transistors AlGaN/GaNMicroeletrônicaTransistoresElétronsResistência elétricaSemicondutores de potênciaMicroelectronicsTransistorsElectronsElectrical resistancePower semiconductorsNesta dissertação de mestrado será feito um estudo sobre dispositivos de alta mobilidade de elétrons (HEMTs) fabricados a partir de uma heterojunção de AlGaN/GaN (Nitreto de Gálio e Alumínio/Nitreto de Gálio). Estes transistores têm se tornado cada vez mais importantes no campo da eletrônica de potência. Eles oferecem várias vantagens em relação a outros dispositivos semicondutores como alta velocidade de comutação, alta potência de saída, alta eficiência energética, alta mobilidade de portadores de carga, alta densidade de elétrons, alta resistência térmica e capacidade de operar em altas frequências, especialmente na faixa de radiofrequência, tornando-os ideais para aplicações em sistemas de comunicação sem fio, como satélites, radares e redes móveis de geração 5G. Devido às suas vantagens, estes dispositivos têm sido amplamente adotados em uma variedade de aplicações incluindo amplificadores de potência de radiofrequência, dispositivos de comutação de alta velocidade, fontes de alimentação de alta eficiência, sistemas de iluminação de estado sólido (LEDs) e conversores de energia. Uma vez que a mobilidade é um dos parâmetros que caracteriza a eficiência do HEMT. Este trabalho apresenta um estudo sobre a mobilidade dos elétrons em HEMTs de AlGaN/GaN em função de diversos aspectos como comprimento e largura do canal, temperatura, tensões de porta e de dreno e variações nos diferentes processos de fabricação dos respectivos dispositivos. Os resultados mostram que a mobilidade dos elétrons é maior em HEMTs com maior largura e comprimento de canal. Por outro lado, revelou que a mobilidade dos elétrons é menor com o aumento da temperatura e tensão de dreno. Verificou-se também que a mobilidade é maior em dispositivos desenvolvidos com 2 implantes ativos. Esses resultados destacam a importância de controlar tais características para obter maior mobilidade dos elétrons.In this master's thesis, a study will be carried out on high electron mobility devices (HEMTs) manufactured from an AlGaN/GaN (Aluminum Gallium Nitride/Gallium Nitride) heterojunction. These transistors have become increasingly important in the field of power electronics. They offer several advantages over other semiconductor devices such as high switching speed, high output power, high energy efficiency, high charge carrier mobility, high electron density, high thermal resistance and the ability to operate at high frequencies, especially in radio frequency range, making them ideal for applications in wireless communication systems, such as satellites, radars and 5G generation mobile networks. Due to their advantages, these devices have been widely adopted in a variety of applications including radio frequency power amplifiers, high-speed switching devices, high-efficiency power supplies, solid-state lighting systems (LEDs), and power converters. . Since mobility is one of the parameters that characterizes HEMT efficiency, this work presents a study on the mobility of electrons in AlGaN/GaN HEMTs as a function of several aspects such as channel length and width, temperature, gate voltages and of drain and variations in the different manufacturing processes of the respective devices. The results show that electron mobility is higher in HEMTs with greater channel width and length. On the other hand, it revealed that electron mobility is lower with increasing temperature and drain voltage. It was also found that mobility is greater in devices developed with 2 active implants. These results highlight the importance of controlling such characteristics to obtain greater electron mobility.Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)CAPES:001Universidade Estadual Paulista (Unesp)Andrade, Maria Glória Caño de [UNESP]Instituto de Ciência e Tecnologia de SorocabaGraziano Junior, NiltonPanzo, Eduardo Canga2024-06-27T19:41:25Z2024-06-27T19:41:25Z2024-05-03info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisapplication/pdfPANZO, Eduardo Canga. Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN. 2024. 85 p. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) – Instituto de Ciência e Tecnologia, Universidade Estadual Paulista, Sorocaba, 2024.https://hdl.handle.net/11449/2561508172759560157779porinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Repositório Institucional da UNESPinstname:Universidade Estadual Paulista (UNESP)instacron:UNESP2024-06-28T11:15:04Zoai:repositorio.unesp.br:11449/256150Repositório InstitucionalPUBhttp://repositorio.unesp.br/oai/requestopendoar:29462024-08-05T21:30:15.544138Repositório Institucional da UNESP - Universidade Estadual Paulista (UNESP)false
dc.title.none.fl_str_mv Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
Study of electron mobility in HEMTs transistors AlGaN/GaN
title Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
spellingShingle Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
Panzo, Eduardo Canga
Microeletrônica
Transistores
Elétrons
Resistência elétrica
Semicondutores de potência
Microelectronics
Transistors
Electrons
Electrical resistance
Power semiconductors
title_short Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
title_full Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
title_fullStr Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
title_full_unstemmed Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
title_sort Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN
author Panzo, Eduardo Canga
author_facet Panzo, Eduardo Canga
author_role author
dc.contributor.none.fl_str_mv Andrade, Maria Glória Caño de [UNESP]
Instituto de Ciência e Tecnologia de Sorocaba
Graziano Junior, Nilton
dc.contributor.author.fl_str_mv Panzo, Eduardo Canga
dc.subject.por.fl_str_mv Microeletrônica
Transistores
Elétrons
Resistência elétrica
Semicondutores de potência
Microelectronics
Transistors
Electrons
Electrical resistance
Power semiconductors
topic Microeletrônica
Transistores
Elétrons
Resistência elétrica
Semicondutores de potência
Microelectronics
Transistors
Electrons
Electrical resistance
Power semiconductors
description Nesta dissertação de mestrado será feito um estudo sobre dispositivos de alta mobilidade de elétrons (HEMTs) fabricados a partir de uma heterojunção de AlGaN/GaN (Nitreto de Gálio e Alumínio/Nitreto de Gálio). Estes transistores têm se tornado cada vez mais importantes no campo da eletrônica de potência. Eles oferecem várias vantagens em relação a outros dispositivos semicondutores como alta velocidade de comutação, alta potência de saída, alta eficiência energética, alta mobilidade de portadores de carga, alta densidade de elétrons, alta resistência térmica e capacidade de operar em altas frequências, especialmente na faixa de radiofrequência, tornando-os ideais para aplicações em sistemas de comunicação sem fio, como satélites, radares e redes móveis de geração 5G. Devido às suas vantagens, estes dispositivos têm sido amplamente adotados em uma variedade de aplicações incluindo amplificadores de potência de radiofrequência, dispositivos de comutação de alta velocidade, fontes de alimentação de alta eficiência, sistemas de iluminação de estado sólido (LEDs) e conversores de energia. Uma vez que a mobilidade é um dos parâmetros que caracteriza a eficiência do HEMT. Este trabalho apresenta um estudo sobre a mobilidade dos elétrons em HEMTs de AlGaN/GaN em função de diversos aspectos como comprimento e largura do canal, temperatura, tensões de porta e de dreno e variações nos diferentes processos de fabricação dos respectivos dispositivos. Os resultados mostram que a mobilidade dos elétrons é maior em HEMTs com maior largura e comprimento de canal. Por outro lado, revelou que a mobilidade dos elétrons é menor com o aumento da temperatura e tensão de dreno. Verificou-se também que a mobilidade é maior em dispositivos desenvolvidos com 2 implantes ativos. Esses resultados destacam a importância de controlar tais características para obter maior mobilidade dos elétrons.
publishDate 2024
dc.date.none.fl_str_mv 2024-06-27T19:41:25Z
2024-06-27T19:41:25Z
2024-05-03
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/masterThesis
format masterThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv PANZO, Eduardo Canga. Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN. 2024. 85 p. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) – Instituto de Ciência e Tecnologia, Universidade Estadual Paulista, Sorocaba, 2024.
https://hdl.handle.net/11449/256150
8172759560157779
identifier_str_mv PANZO, Eduardo Canga. Estudo da mobilidade dos elétrons nos transistores HEMTs de AlGaN/GaN. 2024. 85 p. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) – Instituto de Ciência e Tecnologia, Universidade Estadual Paulista, Sorocaba, 2024.
8172759560157779
url https://hdl.handle.net/11449/256150
dc.language.iso.fl_str_mv por
language por
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.publisher.none.fl_str_mv Universidade Estadual Paulista (Unesp)
publisher.none.fl_str_mv Universidade Estadual Paulista (Unesp)
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Repositório Institucional da UNESP
instname:Universidade Estadual Paulista (UNESP)
instacron:UNESP
instname_str Universidade Estadual Paulista (UNESP)
instacron_str UNESP
institution UNESP
reponame_str Repositório Institucional da UNESP
collection Repositório Institucional da UNESP
repository.name.fl_str_mv Repositório Institucional da UNESP - Universidade Estadual Paulista (UNESP)
repository.mail.fl_str_mv
_version_ 1808129327915597824