Caracterização estrutural da cerâmica Ti x(Sm0,2Ce0,8)1-xO 2-delta pelo método de Rietveld

• Main Author: Domingues, S. [UNESP]
• Publication Date: 2007
• Other Authors: Pereira, T. J. [UNESP], Florentino, A. O. [UNESP], Cavalheiro, A. A. [UNESP], Saeki, Margarida Juri [UNESP]
• Format: Article
• Language: por
• Source: Repositório Institucional da UNESP
• Download full: http://dx.doi.org/10.1590/S0366-69132007000200016; http://hdl.handle.net/11449/30026
• topic: difração de raios X; método de Rietveld; X-ray diffraction; Rietveld method

O método precursor polimérico foi aplicado para a síntese de pós de Ti x(Sm0,2Ce0,8)1 xO2-delta, com 0 < x < 0,5, com tratamento nas temperaturas de 400 ºC, 700 ºC e 1000 ºC. A caracterização foi feita por difração de raios X e o refinamento estrutural pelo método de Rietveld. A inserção do titânio tende a aumentar a deformação da rede da estrutura cristalina, que não é eliminada até a temperatura de 700 ºC. Nestas condições as amostras ainda se mostraram monofásicas como cerianita. Para as amostras tratadas a 1000 ºC, a deformação provocada pela introdução do titânio é suprimida e a solubilidade do titânio na cerianita se limita a valores de x < 0,05. O excedente precipita-se como única fase secundária de titanato de samário para valores de 0,5 < x < 0,20. Quando x excede este valor, observa-se também a precipitação da fase rutila. Paralelamente, há uma diminuição da fase titanato de samário e a re-incorporação do samário pela cerianita, sendo que esta é comprovada pelo aumento dos parâmetros de rede da cerianita.