O efeito da técnica de inclusão para fundição de titânio CP na fluidez, rusogidade, camada de reação e desajuste marginal

• Autor(a) principal: Pieralini, Anelise Rodolfo Ferreira [UNESP]
• Data de Publicação: 2009
• Tipo de documento: Tese
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UNESP
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/11449/105486
• topic: Titanio; Revestimento para fundição odontológica; Técnica de fundição odontológica; Titanium; Dental casting investiment; Dental casting technique

Esse estudo avaliou o efeito da tecnica de inclusao de revestimentos fosfatados nafluidez, rugosidade de superficie, camada de reacao (α-case) e adaptacao marginal de copings fundidos em Ti cp. Os padroes foram incluidos de forma convencional ou pela tecnica de inclusao experimental, na qual os padroes foram cobertos comRematitan Ultra – RU previamente a inclusao. Os revestimentos fosfatados estudados foram: Rematitan Plus (RP), Rema Exakt (RE), Castorit Super C (CA) e o revestimento a base de espinelio Rematitan Ultra (RU) foi o grupo controle. Sete grupos experimentais foram constituidos: G1: RU (controle); G2: RP; G3: RP e RU; G4: RE; G5: RE e RU; G6: CA; G7: CA e RU. Para fluidez foram feitos corpos-de-prova quadrados (15 mm X 15 mm X 0.3 mm) e a area (mm2) foi medida por um sistema analisador de imagens (n=8). Para a rugosidade de superficie as medidas (Ra) foram feitas em rugosimetro Mitutoyo (Mitutoyo SJ 400, Kanagawa, Japan) em corpos-de-prova quadrados (12 mm x 12 mm x 2 mm) n =8. A camada de reacao foi analisada por dureza Vickers, micro-analise por energia dispersiva (EDX), microscopia optica e a composicao dos revestimentos. Para dureza Vickers as medidas foram feitas em corpos-de-prova cilindricos (obtidos a partir dos sprues fundidos nos copos-de-prova para o teste de fluidez) em profundidades de 25, 50, 100, 150, 200 e 300Wm da superficie para o centro, em durometro Micromet 2100 (Buehler, Lake Bluff, Illinois, EUA) n= 8. Para a micro-analise por energia dispersiva (EDX) um equipamento EDX LINK ANALYTICAL, modelo QX 2000, com microscopio eletronico LEO (Zeiss - Germany) e detector OXFORD (Oxford Instrumentos de nano-analises Halifax Alta Rotacao WycombeBucks-HP12 3SE, UK) foram feitas em tres areas da camada de reacao (25 Wm, 75Wm e 150 Wm). Para a microscopia optica, as amostras foram polidas e limpas com solucao acida de Kroll por 20 segundos e observadas em Microscopio...