Avaliação retrospectiva de implantes com conexões protéticas do tipo cone morse e hexágono externo instalados em seios maxilares previamente enxertados e em osso nativo

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Barros Filho, Luiz Antônio Borelli
Data de Publicação: 2020
Tipo de documento: Tese
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da UNESP
Texto Completo: http://hdl.handle.net/11449/192378
Resumo: O objetivo desse estudo foi de avaliar retrospectivamente a taxa de sobrevivência de implantes com diferentes tipos de conexão protética instalados na região posterior de maxila, em osso nativo ou em seios previamente enxertados com diferentes biomateriais. Foram avaliados 310 implantes que foram instalados em 103 pacientes sendo que 87 implantes foram instalados associados a seios maxilares enxertados (56 cone morse - CM e 31 hexágonos externos-HE) em 37 pacientes e 223 implantes foram instalados em áreas de osso nativo (112 CM e 111 HE) em 76 pacientes. Foram realizadas análises clínicas peri-implantares: 1)Sangramento à sondagem; 2)Profundidade de sondagem; 3)Nível da margem periimplantar; 4)Presença de mobilidade ou supuração e análise do nível ósseo radiográfico. Dois implantes foram perdidos, um CM em osso nativo e um HE em seio enxertado, o que forneceu uma taxa de sobrevivência de 99.35 %. Foi verificado que os implantes do tipo CM apresentaram menores profundidades de sondagem e maior nível ósseo periimplantar em comparação aos implantes HE tanto em área enxertada como em área de osso nativo (p<0.05). Não houve diferenças estatisticamente significativas entre os implantes instalados em áreas de osso nativo e enxertado em nenhum parâmetro avaliado. Implantes HE instalados em áreas de osso nativo apresentaram maiores taxas de peri-implantite. Pode-se concluir que implantes de plataforma do tipo CM reduzem a perda óssea periimplantar, porém a instalação de implantes em seios maxilares previamente enxertados com biomateriais osteocondutores não predispõe maiores níveis ósseos periimplantares.
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