Caracterização de Zn0,96Mn0,04O por espectroscopia de absorção de raios X

• Autor(a) principal: Oliveira, Breno Marcel Gomes de
• Data de Publicação: 2021
• Tipo de documento: Trabalho de conclusão de curso
• Idioma: por
• Título da fonte: Repositório Institucional da UNESP
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/11449/234855
• topic: Espectroscopia de absorção de raios X; Materiais semicondutores magnéticos diluídos; Óxido de zinco; Ciência dos materiais; XANES; EXAFS; X-ray absorption spectroscopy; Diluted magnetic semiconductor materials; Zinc oxide

Os materiais semicondutores magnéticos diluídos (SMD) são alvos de extensivos estudos, tanto pelas suas propriedades como pelas aplicações tecnológicas em dispositivos eletrônicos, que cada vez mais demandam uma alta capacidade de processamento atrelada a dispositivos cada vez menores. Estes materiais possuem propriedades semicondutoras e magnéticas, devido a dopagem com íons que possuem momento magnético não nulo. Nesta monografia foram caracterizados semicondutores magnéticos diluídos de óxido de zinco, dopados com manganês, sintetizados através do método convencional de reação de estado solido. Além disso as amostras foram tratadas termicamente em forno elétrico convencional, nas temperaturas de 900 ºC, 1000 ºC, 1100 ºC e 1200 ºC numa atmosfera controlada de argônio e hidrogênio, que tem como intuito gerar defeitos no material. Amostras desse material foram caracterizadas com a técnica de espectroscopia de absorção de raios X. Essa técnica permitiu a caracterização da estrutura local ao redor dos átomos de Zn e Mn, sendo possível a determinação de distancias interatômicas e números de coordenação, podendo avaliar o efeito da dopagem. Foi possível determinar que átomos de Mn incorporados no material possuem estado de oxidação 2+ e contém vacâncias de oxigênio, o que era esperado dada a maneira em que foi sintetizado.