Filmes finos de Titanato de Chumbo e Lantânio - PLT: influência do pH
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Data de Publicação: | 2000 |
Outros Autores: | , , |
Tipo de documento: | Artigo |
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Título da fonte: | Repositório Institucional da UNESP |
Texto Completo: | http://dx.doi.org/10.1590/S0366-69132000000400003 http://hdl.handle.net/11449/30002 |
Resumo: | Filmes finos de PbTiO3 dopados com 27% de lantânio, depositados em substratros MgO (100), foram preparados pelo método dos precursores poliméricos (Pechini). As resinas, das quais são obtidos os filmes, ao término do processo apresentam pH entre 2-3. Este fato promove o aparecimento de cristais de citrato de Pb (favorecido pelo meio ácido). Para evitar tal problema, o pH da resina foi mantido entre 7-8 pela adição de hidróxido de amônio. O surgimento de regiões mais ricas em chumbo pode ser visto por intermédio de Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) e confirmada pela análise de EDS. A Microscopia de Força Atômica (MFA) também foi utilizada na observação da superfície dos filmes. |
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Filmes finos de Titanato de Chumbo e Lantânio - PLT: influência do pHThin films of Lead Lanthanum Titanate - PLT: the influence of pHfilmes finostitanato de chumbothin filmslead titanateFilmes finos de PbTiO3 dopados com 27% de lantânio, depositados em substratros MgO (100), foram preparados pelo método dos precursores poliméricos (Pechini). As resinas, das quais são obtidos os filmes, ao término do processo apresentam pH entre 2-3. Este fato promove o aparecimento de cristais de citrato de Pb (favorecido pelo meio ácido). Para evitar tal problema, o pH da resina foi mantido entre 7-8 pela adição de hidróxido de amônio. O surgimento de regiões mais ricas em chumbo pode ser visto por intermédio de Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) e confirmada pela análise de EDS. A Microscopia de Força Atômica (MFA) também foi utilizada na observação da superfície dos filmes.Thin films of PbTiO3 doped with 27% of lanthanum, deposited in MgO (100) substrates, were prepared by the Pechini method. The thin films present pH between 2 and 3 at the end of the process, with the appearance of crystals of Pb citrate due to the acid medium. To avoid this problem, the pH of the resin was kept between 7 and 8 by addition of ammonium hydroxide. The appearance of lead rich areas can be seen by Scanning Electron Microscopy (SEM) and confirmed by EDX analysis. Atomic Force Microscopy (AFM) observation was also carried out on the film surface.Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)Universidade Federal de S. Carlos Departamento de Química Laboratório Interdisciplinar de Eletroquímica e CerâmicaUniversidade Estadual Paulista Instituto de Química Laboratório Interdisciplinar de Eletroquímica e CerâmicaUniversidade Estadual Paulista Instituto de Química Laboratório Interdisciplinar de Eletroquímica e CerâmicaAssociação Brasileira de CerâmicaUniversidade Federal de São Carlos (UFSCar)Universidade Estadual Paulista (Unesp)Rangel, J. H. G.Pontes, Fenelon Martinho Lima [UNESP]Leite, E. R.Varela, José Arana [UNESP]2014-05-20T15:16:21Z2014-05-20T15:16:21Z2000-12-01info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/article181-185application/pdfhttp://dx.doi.org/10.1590/S0366-69132000000400003Cerâmica. Associação Brasileira de Cerâmica, v. 46, n. 300, p. 181-185, 2000.0366-6913http://hdl.handle.net/11449/3000210.1590/S0366-69132000000400003S0366-69132000000400003S0366-69132000000400003.pdf11594803469908210000-0001-6086-5303SciELOreponame:Repositório Institucional da UNESPinstname:Universidade Estadual Paulista (UNESP)instacron:UNESPporCerâmica0,186info:eu-repo/semantics/openAccess2024-04-29T18:17:21Zoai:repositorio.unesp.br:11449/30002Repositório InstitucionalPUBhttp://repositorio.unesp.br/oai/requestopendoar:29462024-08-05T23:29:24.645410Repositório Institucional da UNESP - Universidade Estadual Paulista (UNESP)false |
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