Referência de acordo com a norma APA

Biasotto, G. [., Moura, F., Foschini, C. [., Silva, E. L. d. [., Varela, J. A. [., & Simões, A. Z. [. (2011). Thickness-dependent piezoelectric behaviour and dielectric properties of lanthanum modified BiFeO3 thin films.

Referência de acordo com a norma Chicago

Biasotto, Glenda [UNESP], Francisco Moura, César [UNESP] Foschini, Elson Longo da [UNESP] Silva, José Arana [UNESP] Varela, e Alexandre Zirpoli [UNESP] Simões. Thickness-dependent Piezoelectric Behaviour and Dielectric Properties of Lanthanum Modified BiFeO3 Thin Films. 2011.

Referência de acordo com a norma MLA

Biasotto, Glenda [UNESP], et al. Thickness-dependent Piezoelectric Behaviour and Dielectric Properties of Lanthanum Modified BiFeO3 Thin Films. 2011.

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