Análise de técnicas de tolerância a falhas baseadas em software para a proteção de microprocessadores
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2010 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/10183/49076 |
Resumo: | Da mesma maneira que novas tecnologias trouxeram avanços para a indústria de semicondutores, diminuíram a confiabilidade dos transistores e consequentemente dos sistemas digitais. Efeitos causados por partículas energizadas antes só vistos em ambientes espaciais hoje se manifestam a nível do mar, introduzindo novos desafios para a fabricação e projeto de sistemas que requerem confiabilidade. Sistemas de alta confiabilidade que utilizam circuitos integrados exigem a utilização de técnicas de tolerância a falhas capazes de detectar ou mesmo corrigir os erros causados por partículas energizadas. Esta proteção pode ser implementada em diferentes níveis: hardware ou software. Enquanto o primeiro exige a modificação interna de circuitos integrados desprotegidos e oferece alto desempenho, o segundo altera somente o código de programa, porém com perdas de desempenho que variam conforme o grau de proteção do sistema. O objetivo deste trabalho é analisar a eficiência na detecção de falhas em microprocessadores através de técnicas de tolerância a falhas baseadas somente em software. Para isto, são propostas diferentes técnicas de tolerância a falhas baseadas somente em software inspiradas em técnicas apresentadas no estado da arte. Estas são implementadas separadamente e combinadas, de maneira a encontrar suas vulnerabilidades e descobrir como estas podem ser combinadas, a fim de apresentar uma solução ideal para diferentes sistemas em termos de desempenho e confiabilidade. A análise se dá através de uma campanha de injeção de falhas direcionada para cada parte de um microprocessador e observando-se os efeitos causados por cada falha no resultado do sistema. |
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Azambuja, José Rodrigo Furlanetto deKastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima2012-05-22T01:35:13Z2010http://hdl.handle.net/10183/49076000826746Da mesma maneira que novas tecnologias trouxeram avanços para a indústria de semicondutores, diminuíram a confiabilidade dos transistores e consequentemente dos sistemas digitais. Efeitos causados por partículas energizadas antes só vistos em ambientes espaciais hoje se manifestam a nível do mar, introduzindo novos desafios para a fabricação e projeto de sistemas que requerem confiabilidade. Sistemas de alta confiabilidade que utilizam circuitos integrados exigem a utilização de técnicas de tolerância a falhas capazes de detectar ou mesmo corrigir os erros causados por partículas energizadas. Esta proteção pode ser implementada em diferentes níveis: hardware ou software. Enquanto o primeiro exige a modificação interna de circuitos integrados desprotegidos e oferece alto desempenho, o segundo altera somente o código de programa, porém com perdas de desempenho que variam conforme o grau de proteção do sistema. O objetivo deste trabalho é analisar a eficiência na detecção de falhas em microprocessadores através de técnicas de tolerância a falhas baseadas somente em software. Para isto, são propostas diferentes técnicas de tolerância a falhas baseadas somente em software inspiradas em técnicas apresentadas no estado da arte. Estas são implementadas separadamente e combinadas, de maneira a encontrar suas vulnerabilidades e descobrir como estas podem ser combinadas, a fim de apresentar uma solução ideal para diferentes sistemas em termos de desempenho e confiabilidade. A análise se dá através de uma campanha de injeção de falhas direcionada para cada parte de um microprocessador e observando-se os efeitos causados por cada falha no resultado do sistema.As new technologies brought advances to the semiconductor industry, they also lowered transistors' reliability and therefore decreased digital systems' reliability. Effects caused by energized particles which were only seen in spatial environments nowadays manifest at sea level, introducing new challenges in the design and fabrication of systems that require high reliability. High reliable systems based on integrated circuits require fault tolerant techniques in order to detect or even correct errors caused by energized particles. This protection can be implemented in different levels: hardware or software. While the first requires internal modifications in the integrated circuit and offers high performance, the second modifies only the program code, but causes system's performance degradation, which can vary according the system's protection level. This work's objective is to analyze software-based fault tolerant techniques efficiency to detect faults in microprocessors. In order to achieve it, different fault tolerance techniques based in software are proposed inspired in techniques presented in state-of-the-art techniques. They are implemented separately and then combined, to analyze their vulnerabilities and realize how to combine them, in order to present an ideal solution for each system, taking into account performance and reliability. The analysis is based in a fault injection campaign directed to each part of the microprocessor, considering the effects caused by each fault in the system's response.application/pdfporMicroeletrônicaTolerancia : FalhasSoftware-based fault tolerant techniquesMicroprocessorsFault injectionAnálise de técnicas de tolerância a falhas baseadas em software para a proteção de microprocessadoresAn analisys on software-based fault tolerant techniques to protect microprocessors info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em ComputaçãoPorto Alegre, BR-RS2010mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000826746.pdf000826746.pdfTexto completoapplication/pdf2759064http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/49076/1/000826746.pdfd34c79d1e4509f84b01ceb7cf06ed371MD51TEXT000826746.pdf.txt000826746.pdf.txtExtracted Texttext/plain271067http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/49076/2/000826746.pdf.txt37c714bf6a2955cc27f532c67cf04c86MD52THUMBNAIL000826746.pdf.jpg000826746.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1064http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/49076/3/000826746.pdf.jpg6be20623dfdbbce3eaf444305497b505MD5310183/490762018-10-05 08:19:05.997oai:www.lume.ufrgs.br:10183/49076Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-05T11:19:05Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false |
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