Functional timing analysis of VLSI circuits containing complex gates

• Autor(a) principal: Guntzel, Jose Luis Almada
• Data de Publicação: 2000
• Tipo de documento: Tese
• Idioma: eng
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/1883
• topic: Microeletrônica; Cad : Microeletronica; Portas logicas; Análise : Timing; Design verification of VLSI circuits; Timing analysis; Functional timing analysis (FTA); Path sensitization problem; Critical delay estimation; Complex gates; Automatic test pattern generation (ATPG); Satisfiability (SAT)

Os recentes avanços experimentados pela tecnologia CMOS tem permitido a fabricação de transistores em dimensões submicrônicas, possibilitando a integração de dezenas de milhões de dispositivos numa única pastilha de silício, os quais podem ser usados na implementação de sistemas eletrônicos muito complexos. Este grande aumento na complexidade dos projetos fez surgir uma demanda por ferramentas de verificação eficientes e sobretudo que incorporassem modelos físicos e computacionais mais adequados. A verificação de timing objetiva determinar se as restrições temporais impostas ao projeto podem ou não ser satisfeitas quando de sua fabricação. Ela pode ser levada a cabo por meio de simulação ou por análise de timing. Apesar da simulação oferecer estimativas mais precisas, ela apresenta a desvantagem de ser dependente de estímulos. Assim, para se assegurar que a situação crítica é considerada, é necessário simularem-se todas as possibilidades de padrões de entrada. Obviamente, isto não é factível para os projetos atuais, dada a alta complexidade que os mesmos apresentam. Para contornar este problema, os projetistas devem lançar mão da análise de timing. A análise de timing é uma abordagem independente de vetor de entrada que modela cada bloco combinacional do circuito como um grafo acíclico direto, o qual é utilizado para estimar o atraso do circuito. As primeiras ferramentas de análise de timing utilizavam apenas a topologia do circuito para estimar o atraso, sendo assim referenciadas como analisadores de timing topológicos. Entretanto, tal aproximação pode resultar em estimativas demasiadamente pessimistas, uma vez que os caminhos mais longos do grafo podem não ser capazes de propagar transições, i.e., podem ser falsos. A análise de timing funcional, por sua vez, considera não apenas a topologia do circuito, mas também as relações temporais e funcionais entre seus elementos. As ferramentas de análise de timing funcional podem diferir por três aspectos: o conjunto de condições necessárias para se declarar um caminho como sensibilizável (i.e., o chamado critério de sensibilização), o número de caminhos simultaneamente tratados e o método usado para determinar se as condições de sensibilização são solúveis ou não. Atualmente, as duas classes de soluções mais eficientes testam simultaneamente a sensibilização de conjuntos inteiros de caminhos: uma baseia-se em técnicas de geração automática de padrões de teste (ATPG) enquanto que a outra transforma o problema de análise de timing em um problema de solvabilidade (SAT). Apesar da análise de timing ter sido exaustivamente estudada nos últimos quinze anos, alguns tópicos específicos não têm recebido a devida atenção. Um tal tópico é a aplicabilidade dos algoritmos de análise de timing funcional para circuitos contendo portas complexas. Este constitui o objeto básico desta tese de doutorado. Além deste objetivo, e como condição sine qua non para o desenvolvimento do trabalho, é apresentado um estudo sistemático e detalhado sobre análise de timing funcional.