Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Bastos, Rodrigo Possamai
Data de Publicação: 2010
Tipo de documento: Tese
Idioma: eng
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/31102
Resumo: Os circuitos integrados recentes baseados em tecnologias nanoeletrônicas estão significativamente mais vulneráveis a falhas transientes. Os erros gerados são assim também mais críticos do que eram antes. Esta tese apresenta uma nova virtude em termos de confiabilidade dos circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos (QDI): a sua grande habilidade natural para mitigar falhas transientes de longa duração, que são severas em circuitos síncronos modernos. Uma metodologia para avaliar comparativamente os efeitos de falhas transientes tanto em circuitos síncronos como em circuitos assíncronos QDI é apresentada. Além disso, um método para obter a habilidade de mitigação de falhas transientes dos elementos de memória de circuitos QDI (ou seja, os C-elements) é também proposto. Por fim, técnicas de mitigação são sugeridas para aumentar ainda mais a atenuação de falhas transientes por parte dos Celements e, por consequência, também a robustez dos sistemas assíncronos QDI.
id URGS_5d4354c282a058ed684d7d4cf0946dd3
oai_identifier_str oai:www.lume.ufrgs.br:10183/31102
network_acronym_str URGS
network_name_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
repository_id_str 1853
spelling Bastos, Rodrigo PossamaiReis, Ricardo Augusto da LuzRenaudin, MarcKastensmidt, Fernanda Gusmão de LimaSicard, Gilles2011-08-16T06:01:21Z2010http://hdl.handle.net/10183/31102000781734Os circuitos integrados recentes baseados em tecnologias nanoeletrônicas estão significativamente mais vulneráveis a falhas transientes. Os erros gerados são assim também mais críticos do que eram antes. Esta tese apresenta uma nova virtude em termos de confiabilidade dos circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos (QDI): a sua grande habilidade natural para mitigar falhas transientes de longa duração, que são severas em circuitos síncronos modernos. Uma metodologia para avaliar comparativamente os efeitos de falhas transientes tanto em circuitos síncronos como em circuitos assíncronos QDI é apresentada. Além disso, um método para obter a habilidade de mitigação de falhas transientes dos elementos de memória de circuitos QDI (ou seja, os C-elements) é também proposto. Por fim, técnicas de mitigação são sugeridas para aumentar ainda mais a atenuação de falhas transientes por parte dos Celements e, por consequência, também a robustez dos sistemas assíncronos QDI.Recent deep-submicron technology-based ICs are significantly more vulnerable to transient faults. The arisen errors are thus also more critical than they have ever been before. This thesis presents a further novel benefit of the Quasi-Delay Insensitive (QDI) asynchronous circuits in terms of reliability: their strong natural ability to mitigate longduration transient faults that are severe in modern synchronous circuits. A methodology to evaluate comparatively the transient-fault effects on synchronous and QDI asynchronous circuits is presented. Furthermore, a method to obtain the transient-fault mitigation ability of the QDI circuits’ memory elements (i.e., the C-elements) is also proposed. Finally, mitigation techniques are suggested to increase even more the Celements’ transient-fault attenuation, and thus also the QDI asynchronous systems’ robustness.application/pdfengMicroeletrônicaMicroprocessadoresTolerancia : FalhasDesign of robust or fault-tolerant systemsQDI asynchronous circuitsTransient faultsSoft errorsEvaluation of transient-fault effectsTransient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuitsSistemas robustos a falhas transientes explorando circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/doctoralThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em MicroeletrônicaPorto Alegre, BR-RS2010doutoradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSTEXT000781734.pdf.txt000781734.pdf.txtExtracted Texttext/plain311857http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/31102/2/000781734.pdf.txt6a794fddb310d769031547413f9c89bcMD52ORIGINAL000781734.pdf000781734.pdfTexto completo (inglês)application/pdf1589987http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/31102/1/000781734.pdfe366c9e47aa7322febad4cada8fb7019MD51THUMBNAIL000781734.pdf.jpg000781734.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1138http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/31102/3/000781734.pdf.jpg5f839dcbabfa889533838f51f26410a2MD5310183/311022021-05-07 04:38:23.58247oai:www.lume.ufrgs.br:10183/31102Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532021-05-07T07:38:23Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false
dc.title.pt_BR.fl_str_mv Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
dc.title.alternative.pt.fl_str_mv Sistemas robustos a falhas transientes explorando circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos
title Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
spellingShingle Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
Bastos, Rodrigo Possamai
Microeletrônica
Microprocessadores
Tolerancia : Falhas
Design of robust or fault-tolerant systems
QDI asynchronous circuits
Transient faults
Soft errors
Evaluation of transient-fault effects
title_short Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
title_full Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
title_fullStr Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
title_full_unstemmed Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
title_sort Transient-fault robust systems exploiting quasi-delay insensitive asynchronous circuits
author Bastos, Rodrigo Possamai
author_facet Bastos, Rodrigo Possamai
author_role author
dc.contributor.author.fl_str_mv Bastos, Rodrigo Possamai
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv Reis, Ricardo Augusto da Luz
Renaudin, Marc
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
Sicard, Gilles
contributor_str_mv Reis, Ricardo Augusto da Luz
Renaudin, Marc
Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
Sicard, Gilles
dc.subject.por.fl_str_mv Microeletrônica
Microprocessadores
Tolerancia : Falhas
topic Microeletrônica
Microprocessadores
Tolerancia : Falhas
Design of robust or fault-tolerant systems
QDI asynchronous circuits
Transient faults
Soft errors
Evaluation of transient-fault effects
dc.subject.eng.fl_str_mv Design of robust or fault-tolerant systems
QDI asynchronous circuits
Transient faults
Soft errors
Evaluation of transient-fault effects
description Os circuitos integrados recentes baseados em tecnologias nanoeletrônicas estão significativamente mais vulneráveis a falhas transientes. Os erros gerados são assim também mais críticos do que eram antes. Esta tese apresenta uma nova virtude em termos de confiabilidade dos circuitos assíncronos quase-insensíveis aos atrasos (QDI): a sua grande habilidade natural para mitigar falhas transientes de longa duração, que são severas em circuitos síncronos modernos. Uma metodologia para avaliar comparativamente os efeitos de falhas transientes tanto em circuitos síncronos como em circuitos assíncronos QDI é apresentada. Além disso, um método para obter a habilidade de mitigação de falhas transientes dos elementos de memória de circuitos QDI (ou seja, os C-elements) é também proposto. Por fim, técnicas de mitigação são sugeridas para aumentar ainda mais a atenuação de falhas transientes por parte dos Celements e, por consequência, também a robustez dos sistemas assíncronos QDI.
publishDate 2010
dc.date.issued.fl_str_mv 2010
dc.date.accessioned.fl_str_mv 2011-08-16T06:01:21Z
dc.type.status.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/publishedVersion
dc.type.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
format doctoralThesis
status_str publishedVersion
dc.identifier.uri.fl_str_mv http://hdl.handle.net/10183/31102
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv 000781734
url http://hdl.handle.net/10183/31102
identifier_str_mv 000781734
dc.language.iso.fl_str_mv eng
language eng
dc.rights.driver.fl_str_mv info:eu-repo/semantics/openAccess
eu_rights_str_mv openAccess
dc.format.none.fl_str_mv application/pdf
dc.source.none.fl_str_mv reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron:UFRGS
instname_str Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
instacron_str UFRGS
institution UFRGS
reponame_str Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
collection Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
bitstream.url.fl_str_mv http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/31102/2/000781734.pdf.txt
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/31102/1/000781734.pdf
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/31102/3/000781734.pdf.jpg
bitstream.checksum.fl_str_mv 6a794fddb310d769031547413f9c89bc
e366c9e47aa7322febad4cada8fb7019
5f839dcbabfa889533838f51f26410a2
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv MD5
MD5
MD5
repository.name.fl_str_mv Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)
repository.mail.fl_str_mv lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br
_version_ 1800309005752467456

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