Análise de jitter causado pelo Random Telegraph Noise em um oscilador em anel

• Autor(a) principal: Barbosa, Rodolfo Grosbelli
• Data de Publicação: 2024
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/277052
• topic: Osciladores; Ruído; Circuitos integrados; Variability; Random Telegraph Noise; CMOS Inverter; Jitter; Ring Oscillator

Random Telegraph Noise (RTN) é uma relevante fonte de variabilidade em circuitos integrados e um problema crescente devido ao scaling dos dispositivos. Jitter é uma de suas consequências; além disso, é um importante parâmetro para a medida de desempe nho de componentes eletrônicos e de sistemas. Neste trabalho, a relação entre o Random Telegraph Noise e diferentes conceitos de jitter é estudada. Primeiramente, foi realizada uma análise do atraso de propagação do sinal de um inversor CMOS gerado pelo ruído. Depois, os conceitos absolute, period e cycle-to-cycle jitters são avaliados em um oscila dor em anel de cinco estágios. Todos os dados foram gerados, usando a técnica de Monte Carlo, com um simulador SPICE modificado para representar o Random Telegraph Noise. Os resultados evidenciaram diversas diferenças entre as relações dos conceitos de jitter aplicados e parâmetros do ruído, o que possibilitou uma análise sobre medidas de variabi lidade de desempenho do oscilador causada pelo RTN, considerando aplicações diferentes para o circuito.