Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2008 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/10183/25520 |
Resumo: | Sistemas embarcados estão mais complexos e são cada vez mais utilizados em contextos que exigem muitos recursos computacionais. Isso significa que o hardware embarcado pode ser composto por vários processadores, memórias, partes reconfiguráveis e ASIPs integrados em um único silício. Adicionalmente, o software embarcados pode conter muitas rotinas de programação executadas sob restrição de processamento e memória. Esse cenário estabelece uma forte dependência entre o hardware e o software embarcado. Portanto, o teste de um sistema embarcado compreende o teste do hardware e do software. Neste contexto, a reutilização de procedimentos e estruturas de teste é um caminho para se reduzir o tempo de desenvolvimento e execução dos testes. Neste trabalho é apresentado um método de teste integrado de hardware e software. Nesse método, casos de teste desenvolvidos para testar o software embarcado também são usados para testar o seu processador. Comparou-se os custos e cobertura de falhas do método proposto com técnicas de auto-teste funcional. Os resultados experimentais demonstraram que foi possível reduzir os custos de aplicação e geração do teste do sistema usando um método de teste integrado de software e hardware. |
id |
URGS_a119d9410fafd8e0caa5d12f877c3db0 |
---|---|
oai_identifier_str |
oai:www.lume.ufrgs.br:10183/25520 |
network_acronym_str |
URGS |
network_name_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
repository_id_str |
1853 |
spelling |
Meirelles, Paulo Roberto MirandaCota, Erika FernandesLubaszewski, Marcelo Soares2010-09-02T04:18:56Z2008http://hdl.handle.net/10183/25520000751158Sistemas embarcados estão mais complexos e são cada vez mais utilizados em contextos que exigem muitos recursos computacionais. Isso significa que o hardware embarcado pode ser composto por vários processadores, memórias, partes reconfiguráveis e ASIPs integrados em um único silício. Adicionalmente, o software embarcados pode conter muitas rotinas de programação executadas sob restrição de processamento e memória. Esse cenário estabelece uma forte dependência entre o hardware e o software embarcado. Portanto, o teste de um sistema embarcado compreende o teste do hardware e do software. Neste contexto, a reutilização de procedimentos e estruturas de teste é um caminho para se reduzir o tempo de desenvolvimento e execução dos testes. Neste trabalho é apresentado um método de teste integrado de hardware e software. Nesse método, casos de teste desenvolvidos para testar o software embarcado também são usados para testar o seu processador. Comparou-se os custos e cobertura de falhas do método proposto com técnicas de auto-teste funcional. Os resultados experimentais demonstraram que foi possível reduzir os custos de aplicação e geração do teste do sistema usando um método de teste integrado de software e hardware.Embedded Systems are more complexity. Nowadays, they are used in context that requires computational resources. This means an embedded hardware may be compound of several processors, memories, reconfigurable parts, and ASICs integrated in a single die. Additionally, an embedded software has a lot of programming procedures, which is under processing and memory constraints. This scenario provides a stronger connection between hardware and software. Therefore, the test of an embedded system is the test of both, hardware and software. In this context, reuse of testing structures and procedures is one way to reduce the test development time and execution. This work presents an integrated test of software and software method. In this method, test cases developed to test the embedded software are also used to test its processor. We compared the costs and fault coverage of our proposed method with techniques of functional self-test. The experimental results show that it is possible to reduce the implementation and test generation costs using an integrated test of software and hardware.application/pdfporMicroeletrônicaMicroprocessadoresTestes : SoftwareInjecao : FalhasSistemas embarcadosEmbedded systemsMicroprocessor testingSoftware testingHardware testingProcess testingFault injectionTeste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadoresIntegrated test of software and hardware: reusing software test cases to test of microprocessor info:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulInstituto de InformáticaPrograma de Pós-Graduação em ComputaçãoPorto Alegre, BR-RS2008mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000751158.pdf000751158.pdfTexto completoapplication/pdf970349http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25520/1/000751158.pdf48a53716b9d2c3749c1977b3db1be4a3MD51TEXT000751158.pdf.txt000751158.pdf.txtExtracted Texttext/plain173436http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25520/2/000751158.pdf.txte96211941d3984be3cfd51108d804be6MD52THUMBNAIL000751158.pdf.jpg000751158.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1057http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25520/3/000751158.pdf.jpg1dd715f8bdf59b5f9f152047009d8341MD5310183/255202018-10-18 07:34:42.149oai:www.lume.ufrgs.br:10183/25520Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-18T10:34:42Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false |
dc.title.pt_BR.fl_str_mv |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores |
dc.title.alternative.en.fl_str_mv |
Integrated test of software and hardware: reusing software test cases to test of microprocessor |
title |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores |
spellingShingle |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores Meirelles, Paulo Roberto Miranda Microeletrônica Microprocessadores Testes : Software Injecao : Falhas Sistemas embarcados Embedded systems Microprocessor testing Software testing Hardware testing Process testing Fault injection |
title_short |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores |
title_full |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores |
title_fullStr |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores |
title_full_unstemmed |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores |
title_sort |
Teste integrado de software e hardware : reusando casos de teste de software em teste de microprocessadores |
author |
Meirelles, Paulo Roberto Miranda |
author_facet |
Meirelles, Paulo Roberto Miranda |
author_role |
author |
dc.contributor.author.fl_str_mv |
Meirelles, Paulo Roberto Miranda |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Cota, Erika Fernandes |
dc.contributor.advisor-co1.fl_str_mv |
Lubaszewski, Marcelo Soares |
contributor_str_mv |
Cota, Erika Fernandes Lubaszewski, Marcelo Soares |
dc.subject.por.fl_str_mv |
Microeletrônica Microprocessadores Testes : Software Injecao : Falhas Sistemas embarcados |
topic |
Microeletrônica Microprocessadores Testes : Software Injecao : Falhas Sistemas embarcados Embedded systems Microprocessor testing Software testing Hardware testing Process testing Fault injection |
dc.subject.eng.fl_str_mv |
Embedded systems Microprocessor testing Software testing Hardware testing Process testing Fault injection |
description |
Sistemas embarcados estão mais complexos e são cada vez mais utilizados em contextos que exigem muitos recursos computacionais. Isso significa que o hardware embarcado pode ser composto por vários processadores, memórias, partes reconfiguráveis e ASIPs integrados em um único silício. Adicionalmente, o software embarcados pode conter muitas rotinas de programação executadas sob restrição de processamento e memória. Esse cenário estabelece uma forte dependência entre o hardware e o software embarcado. Portanto, o teste de um sistema embarcado compreende o teste do hardware e do software. Neste contexto, a reutilização de procedimentos e estruturas de teste é um caminho para se reduzir o tempo de desenvolvimento e execução dos testes. Neste trabalho é apresentado um método de teste integrado de hardware e software. Nesse método, casos de teste desenvolvidos para testar o software embarcado também são usados para testar o seu processador. Comparou-se os custos e cobertura de falhas do método proposto com técnicas de auto-teste funcional. Os resultados experimentais demonstraram que foi possível reduzir os custos de aplicação e geração do teste do sistema usando um método de teste integrado de software e hardware. |
publishDate |
2008 |
dc.date.issued.fl_str_mv |
2008 |
dc.date.accessioned.fl_str_mv |
2010-09-02T04:18:56Z |
dc.type.status.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
dc.type.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/masterThesis |
format |
masterThesis |
status_str |
publishedVersion |
dc.identifier.uri.fl_str_mv |
http://hdl.handle.net/10183/25520 |
dc.identifier.nrb.pt_BR.fl_str_mv |
000751158 |
url |
http://hdl.handle.net/10183/25520 |
identifier_str_mv |
000751158 |
dc.language.iso.fl_str_mv |
por |
language |
por |
dc.rights.driver.fl_str_mv |
info:eu-repo/semantics/openAccess |
eu_rights_str_mv |
openAccess |
dc.format.none.fl_str_mv |
application/pdf |
dc.source.none.fl_str_mv |
reponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS instname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) instacron:UFRGS |
instname_str |
Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) |
instacron_str |
UFRGS |
institution |
UFRGS |
reponame_str |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
collection |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
bitstream.url.fl_str_mv |
http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25520/1/000751158.pdf http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25520/2/000751158.pdf.txt http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/25520/3/000751158.pdf.jpg |
bitstream.checksum.fl_str_mv |
48a53716b9d2c3749c1977b3db1be4a3 e96211941d3984be3cfd51108d804be6 1dd715f8bdf59b5f9f152047009d8341 |
bitstream.checksumAlgorithm.fl_str_mv |
MD5 MD5 MD5 |
repository.name.fl_str_mv |
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS) |
repository.mail.fl_str_mv |
lume@ufrgs.br||lume@ufrgs.br |
_version_ |
1810085182094442496 |