Ferramentas para simulação de falhas transientes

• Autor(a) principal: Bartra, Walter Enrique Calienes
• Data de Publicação: 2011
• Tipo de documento: Dissertação
• Idioma: por
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/70241
• topic: Microeletrônica; Tolerancia : Falhas; Simulação computacional; Reliability; Simulation; Faults; Integrated circuits; LabVIEW

Atualmente, a simulação de falhas é um estágio importante em qualquer desenvolvimento de Circuitos Integrados. A predição de falhas comportamentais em qualquer estagio do processo é essencial para garantir que o chip desenvolvido seja bem implementado. Vários problemas podem ser conferidos e solucionados enquanto se executa a simulação. As falhas transientes mais conhecidas são os Single-Event-Upset (SEU), as quais acontecem nos circuitos de memória, e as Single-Event Transient (SET), que acontecem em circuitos de lógica combinacional. A análise do comportamento do circuito sob falhas é fundamental para a escolha de técnicas de proteção e medição da susceptibilidade aos diferentes tipos de falhas. Neste trabalho, apresenta-se uma ferramenta para simular os efeitos que acontecem quando uma fonte de falha é inserida num circuito digital, especialmente falhas SEU. Além disso, é desenvolvido o método TMR que pode verificar a existência de uma falha e inibir que esta se propague pelo circuito todo. Foram desenvolvidos módulos para simulação de circuitos analógicos como o Oscilador Controlado por Voltagem (VCO) permitindo a visualização dos efeitos de falhas nestes circuitos. A ferramenta LabVIEWr da National Instruments é usada para criar o conjunto de Instrumentos Virtuais (VIs) para simular os SEUs. Esta é também usada pela simulação de SETs. Foram feitos várias simulações com as ferramentas desenvolvidas para validar sua funcionalidade os quais mostram resultados semelhantes aos descritos na literatura. As ferramentas desenvolvidas para simulação de falhas transientes em portas lógicas inserem falhas SET de forma automática sem análise prévia do sinal de saída. Usando as ferramentas de Lógica Booleana é possível obter resultados para fazer estudos estatísticos dos erros acontecidos e determinar tendências no comportamento das técnicas de Redundância Modular Triplo (TMR) e TMR com redundância no tempo. O modelo desenvolvido para a análise de falhas do VCO apresenta uma melhor semelhança com o resultado real que com o simulado com ferramentas comerciais.