Medidor não invasivo de alta tensão, tempo e exposição em aparelhos de raios x
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 1996 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/10183/18276 |
Resumo: | Neste trabalho, propõe-se desenvolver um medidor para controle de qualidade em RX diagnóstico, que permite medidas rápidas de alta tensão, tempo e exposição em aparelhos de RX, de modo não invasivo, baseado na leitura frontal do feixe. A unidade é composta de dois diodos fotovoltaicos como transdutores, amplificadores de corrente, como condicionadores de sinais e de um sistema de aquisição e processamento, para o tratamento do sinal digital. 0 medidor permite a medida da alta tensão de pico (kVp), taxa de exposição (R/min), e do tempo de exposição (s) em aparelhos de RX, na faixa de 50 a 150 kVp. As medidas são realizadas num sistema microprocessado, programadas por teclado e apresentadas num display alfanumérico. São memorizadas e transferidas a um microcomputador por meio de uma saída serial |
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Laan, Flavio Tadeu van derElbern, Alwin Wilhelm2010-01-19T04:14:46Z1996http://hdl.handle.net/10183/18276000199783Neste trabalho, propõe-se desenvolver um medidor para controle de qualidade em RX diagnóstico, que permite medidas rápidas de alta tensão, tempo e exposição em aparelhos de RX, de modo não invasivo, baseado na leitura frontal do feixe. A unidade é composta de dois diodos fotovoltaicos como transdutores, amplificadores de corrente, como condicionadores de sinais e de um sistema de aquisição e processamento, para o tratamento do sinal digital. 0 medidor permite a medida da alta tensão de pico (kVp), taxa de exposição (R/min), e do tempo de exposição (s) em aparelhos de RX, na faixa de 50 a 150 kVp. As medidas são realizadas num sistema microprocessado, programadas por teclado e apresentadas num display alfanumérico. São memorizadas e transferidas a um microcomputador por meio de uma saída serialThis work contains a development of an instrument for non invasive as well fast measurement of essential parameters related to quality control of X-ray equipment's using only the frontal reading of the beam intensity. The unit is composed of a data acquisition system for reading two Photovoltaic diodes sensor, for measurement of Peak Kilovoltage (kVp), Exposure Rate (R/min) and Exposure Time (s) of the x-ray equipment. The measurements are performed with microprocessed instrumentation, with programmed keyboard ability, alphanumeric display, memory data storage and serial output to microcomputer connection.application/pdfporProteção radiológicaInstrumentaçãoRaios XMedidor não-invasivoMedidor não invasivo de alta tensão, tempo e exposição em aparelhos de raios xinfo:eu-repo/semantics/publishedVersioninfo:eu-repo/semantics/masterThesisUniversidade Federal do Rio Grande do SulEscola de EngenhariaPrograma de Pós-Graduação em Engenharia Metalurgica e dos MateriaisPorto Alegre, BR-RS1996mestradoinfo:eu-repo/semantics/openAccessreponame:Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGSinstname:Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)instacron:UFRGSORIGINAL000199783.pdf000199783.pdfTexto completoapplication/pdf4258009http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/18276/1/000199783.pdf97d2555ac7dbe4ccfbfcf584940d4373MD51TEXT000199783.pdf.txt000199783.pdf.txtExtracted Texttext/plain83742http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/18276/2/000199783.pdf.txt8b77d6c3b0752d1168d2cc13f4a75531MD52THUMBNAIL000199783.pdf.jpg000199783.pdf.jpgGenerated Thumbnailimage/jpeg1111http://www.lume.ufrgs.br/bitstream/10183/18276/3/000199783.pdf.jpgcb14416325eee8c2373473a5d0d503c3MD5310183/182762018-10-08 09:06:52.933oai:www.lume.ufrgs.br:10183/18276Biblioteca Digital de Teses e Dissertaçõeshttps://lume.ufrgs.br/handle/10183/2PUBhttps://lume.ufrgs.br/oai/requestlume@ufrgs.br||lume@ufrgs.bropendoar:18532018-10-08T12:06:52Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS - Universidade Federal do Rio Grande do Sul (UFRGS)false |
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