Designing single event upset mitigation techniques for large SRAM-Based FPGA components

• Autor(a) principal: Kastensmidt, Fernanda Gusmão de Lima
• Data de Publicação: 2003
• Tipo de documento: Tese
• Idioma: eng
• Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da UFRGS
• Texto Completo: http://hdl.handle.net/10183/4181
• topic: Microeletrônica; Fpga; Tolerancia : Falhas; Fault tolerance; Single event upset; Fault injection; Time and hardware redundancy

Esse trabalho consiste no estudo e desenvolvimento de técnicas de proteção a falhas transientes, também chamadas single event upset (SEU), em circuitos programáveis customizáveis por células SRAM. Os projetistas de circuitos eletrônicos estão cada vez mais predispostos a utilizar circuitos programáveis, conhecidos como Field Programmable Gate Array (FPGA), para aplicações espaciais devido a sua alta flexibilidade lógica, alto desempenho, baixo custo no desenvolvimento, rapidez na prototipação e principalmente pela reconfigurabilidade. Em particular, FPGAs customizados por SRAM são muito importantes para missões espaciais pois podem ser rapidamente reprogramados à distância quantas vezes for necessário. A técnica de proteção baseada em redundância tripla, conhecida como TMR, é comumente utilizada em circuitos integrados de aplicações específicas e pode também ser aplicada em circuitos programáveis como FPGAs. A técnica TMR foi testada no FPGA Virtex® da Xilinx em aplicações como contadores e micro-controladores. Falhas foram injetadas em todos as partes sensíveis da arquitetura e seus efeitos foram detalhadamente analisados. Os resultados de injeção de falhas e dos experimentos sob radiação em laboratório comprovaram a eficácia do TMR em proteger circuitos sintetizados em FPGAs customizados por SRAM. Todavia, essa técnica possui algumas limitações como aumento em área, uso de três vezes mais pinos de entrada e saída (E/S) e conseqüentemente, aumento na dissipação de potência. Com o objetivo de reduzir custos no TMR e melhorar a confiabilidade, uma técnica inovadora de tolerância a falhas para FPGAs customizados por SRAM foi desenvolvida para ser implementada em alto nível, sem modificações na arquitetura do componente. Essa técnica combina redundância espacial e temporal para reduzir custos e assegurar confiabilidade. Ela é baseada em duplicação com um circuito comparador e um bloco de detecção concorrente de falhas. Esta nova técnica proposta neste trabalho foi especificamente projetada para tratar o efeito de falhas transientes em blocos combinacionais e seqüenciais na arquitetura reconfigurável, reduzir o uso de pinos de E/S, área e dissipação de potência. A metodologia foi validada por injeção de falhas emuladas em uma placa de prototipação. O trabalho mostra uma comparação nos resultados de cobertura de falhas, área e desempenho entre as técnicas apresentadas.