Incrementando a precisão de alvos finos usados para calibrar fluorescência de raios-X (EDX)

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Kerr, Americo Adlai Franco Sansigolo
Data de Publicação: 2009
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da USP (Biblioteca Digital da Produção Intelectual)
Texto Completo: http://www.usp.br/siicusp/Resumos/17Siicusp/resumos/5907.pdf
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