Estudo das propriedades estruturais em nanoferritas do tipo espinélio utilizando o refinamento de rietveld dos dados de difração de raios x obtidos no síncrotron

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Moreira, Alessandro F L
Data de Publicação: 2005
Tipo de documento: Artigo de conferência
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional da USP (Biblioteca Digital da Produção Intelectual)
Texto Completo: http://www.sbf1.sbfisica.org.br/eventos/enfmc/xxviii/sys/resumos/R0954-2.pdf
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