Mapeamento da voltagem na tomografia de impedância elétrica
Autor(a) principal: | |
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Data de Publicação: | 2005 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP |
Texto Completo: | https://teses.usp.br/teses/disponiveis/45/45132/tde-20210729-141732/ |
Resumo: | Métodos numéricos para obtenção da distribuição de condutividades no interior de um domínio a partir de medidas de voltagens e de correntes elétricas aplicadas na borda do mesmo, utilizam direta ou indiretamente a solução do problema direto, que consiste em detrminar os valores das voltagens na fronteira a partir do conhecimento da distribuição de condutividade no interior do domínio e da corrente aplicada na fronteira. Por ser o problema inverso mal-posto, o conhecimento dos fatores que alteram as medidas de voltagens podem ser utilizados para a melhoria das imagens reconstruídas. O objetivo deste trabalho é avaliar as aterações nos valores das voltagens na fronteira do domínio, determinadas por alguns desses fatores na solução do problema direto. Esta avaliação foi feita através da simulação de distribuições de condutividades que correspondem a diferentes objetos circulares - tanto de forma quanto em valor de condutividade - colocados em diferentes posições no interior do domínio, para diferentes configurações de padrões de injeção e de modelos de eletrodos. |
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