Desenvolvimento de microestruturas estratificadas sintéticas para óptica de raios-x

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Lin, Liu
Data de Publicação: 1986
Tipo de documento: Dissertação
Idioma: por
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP
Texto Completo: http://www.teses.usp.br/teses/disponiveis/54/54131/tde-23032015-205255/
Resumo: Microestruturas estratificadas sintéticas (MES) são dispositivos constituídos de camadas alternadas de dois materiais, com alto e baixo número atômico. Para aplicações em óptica de raios-x, a espessura de cada camada deve ser da ordem de 10 a 100&#197. Este trabalho apresenta uma proposição de dimensionamento, fabricação e caracterização de MES. Para o dimensionamento, foi feito um programa para o cálculo da refletividade em função do ângulo de incidência, incluindo efeitos de absorção, aplicável tanto a multicamadas periódicas ou não periódicas com número finito de camadas. Amostras de ouro/carbono e prata/carbono foram fabricadas na evaporadora existente no IFQSC, com algumas adaptações. A caracterização foi feita com raio-X duro e ângulos de incidência rasantes, em um difratômetro de triplo eixo especialmente construído para este fim. Finalmente, comparações são feitas entre os parâmetros pré-determinados, os parâmetros obtidos e os teoricamente ajustados
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