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1
First Principles Statistical Process Monitoring of High-Dimensional Industrial Microelectronics Assembly Processes
por
Rato
,
Tiago
J
.
Publicado em 2020
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Artigo
2
Fault detection in the Tennessee Eastman benchmark process using dynamic principal components analysis based on decorrelated residuals (DPCA-DR)
por
Rato
,
Tiago
J
.
Publicado em 2013
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Artigo
3
Defining the structure of DPCA models and its impact on process monitoring and prediction activities
por
Rato
,
Tiago
J
.
Publicado em 2013
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Artigo
4
Sensitivity enhancing transformations for monitoring the process correlation structure
por
Rato
,
Tiago
J
.
Publicado em 2014
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