Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores
Autor(a) principal: | |
---|---|
Data de Publicação: | 2020 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Título da fonte: | Portal de Dados Abertos da CAPES |
Texto Completo: | https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=9537883 |
id |
BRCRIS_108f0cf48be3cb89271097b94eca2d42 |
---|---|
network_acronym_str |
CAPES |
network_name_str |
Portal de Dados Abertos da CAPES |
dc.title.pt-BR.fl_str_mv |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores |
title |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores |
spellingShingle |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores Underlapped, SOI, FinFET, electrical characterization, radiation, total dose, sensing, series resistance, spreading Underlapped, SOI, FinFET, caracterização elétrica, radiação, dose total, sensoriamento, resistência série, espraiamento. WILLIAM FONSECA |
title_short |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores |
title_full |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores |
title_fullStr |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores |
title_full_unstemmed |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores |
title_sort |
Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores |
topic |
Underlapped, SOI, FinFET, electrical characterization, radiation, total dose, sensing, series resistance, spreading Underlapped, SOI, FinFET, caracterização elétrica, radiação, dose total, sensoriamento, resistência série, espraiamento. |
publishDate |
2020 |
format |
masterThesis |
url |
https://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=9537883 |
author_role |
author |
author |
WILLIAM FONSECA |
author_facet |
WILLIAM FONSECA |
dc.contributor.authorLattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/4252942892409174 |
dc.identifier.orcid.none.fl_str_mv |
https://orcid.org/0000000199708129 |
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv |
Paula Ghedini der Agopian |
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv |
http://lattes.cnpq.br/0496909595465696 |
dc.contributor.advisor1orcid.por.fl_str_mv |
https://orcid.org/0000000208867798 |
dc.publisher.none.fl_str_mv |
UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JÚLIO DE MESQUITA FILHO ( SOROCABA ) |
publisher.none.fl_str_mv |
UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JÚLIO DE MESQUITA FILHO ( SOROCABA ) |
instname_str |
UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JÚLIO DE MESQUITA FILHO ( SOROCABA ) |
dc.publisher.program.fl_str_mv |
ENGENHARIA ELÉTRICA |
dc.description.course.none.fl_txt_mv |
ENGENHARIA ELÉTRICA |
reponame_str |
Portal de Dados Abertos da CAPES |
collection |
Portal de Dados Abertos da CAPES |
spelling |
CAPESPortal de Dados Abertos da CAPESEstudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como SensoresEstudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como SensoresEstudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como SensoresEstudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como SensoresEstudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como SensoresEstudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como SensoresEstudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como SensoresUnderlapped, SOI, FinFET, electrical characterization, radiation, total dose, sensing, series resistance, spreading2020masterThesishttps://sucupira.capes.gov.br/sucupira/public/consultas/coleta/trabalhoConclusao/viewTrabalhoConclusao.jsf?popup=true&id_trabalho=9537883authorWILLIAM FONSECAhttp://lattes.cnpq.br/4252942892409174https://orcid.org/0000000199708129Paula Ghedini der Agopianhttp://lattes.cnpq.br/0496909595465696https://orcid.org/0000000208867798UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JÚLIO DE MESQUITA FILHO ( SOROCABA )UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JÚLIO DE MESQUITA FILHO ( SOROCABA )UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA JÚLIO DE MESQUITA FILHO ( SOROCABA )ENGENHARIA ELÉTRICAENGENHARIA ELÉTRICAPortal de Dados Abertos da CAPESPortal de Dados Abertos da CAPES |
identifier_str_mv |
FONSECA, WILLIAM. Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores. 2020. Tese. |
dc.identifier.citation.fl_str_mv |
FONSECA, WILLIAM. Estudo do Comportamento de Transistores FinFETs com Subposição de Porta Aplicados como Sensores. 2020. Tese. |
_version_ |
1741884702082465792 |