Fabricação de lamela no microscópio de íons focalizados: artefatos e medidas de espessura

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: FABIO ALVES ZUIM
Data de Publicação: 2017
Tipo de documento: Dissertação
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
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Microscopia de íons focalizados, Microscopia eletrônica, artefatos na preparação de amostras, íons gálio, Tomografia de elétrons.
Focused ions beam, Electron microscopy, sample preparation artifacts, gallium ions, Electron tomography.
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