Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos

Detalhes bibliográficos
Data de Publicação: 2000
Tipo de documento: Tese
Título da fonte: Portal de Dados Abertos da CAPES
id BRCRIS_95da6bdebb7842f2da0a736c13f309ea
network_acronym_str CAPES
network_name_str Portal de Dados Abertos da CAPES
dc.title.pt-BR.fl_str_mv Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
title Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
spellingShingle Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
title_short Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
title_full Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
title_fullStr Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
title_full_unstemmed Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
title_sort Geração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos
publishDate 2000
format doctoralThesis
author_role author
dc.contributor.advisor1.fl_str_mv MARCELO SOARES LUBASZEWSKI
dc.contributor.advisor1Lattes.fl_str_mv http://lattes.cnpq.br/5265254209364825
dc.contributor.advisor1orcid.por.fl_str_mv https://orcid.org/0000-0002-1337-0671
dc.publisher.none.fl_str_mv UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIRO
publisher.none.fl_str_mv UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIRO
instname_str UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIRO
reponame_str Portal de Dados Abertos da CAPES
collection Portal de Dados Abertos da CAPES
spelling CAPESPortal de Dados Abertos da CAPESGeração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos AnalógicosGeração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos AnalógicosGeração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos AnalógicosGeração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos AnalógicosGeração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos AnalógicosGeração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos AnalógicosGeração de Testes e Projeto Visando a Testabilidade de Circuitos Analógicos2000doctoralThesisauthorMARCELO SOARES LUBASZEWSKIhttp://lattes.cnpq.br/5265254209364825https://orcid.org/0000-0002-1337-0671UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIROUNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIROUNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO DE JANEIROPortal de Dados Abertos da CAPESPortal de Dados Abertos da CAPES
_version_ 1741890503096401920