SOI Stacked Transistors Tolerance to Single-Event Effects

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: PERIN, ANDRE L.
Data de Publicação: 2019
Outros Autores: PEREIRA, ARIANNE S. N., BUHLER, RUDOLF T., DA SILVEIRA, MARCILEI A. G., GIACOMINI, RENATO C.
Tipo de documento: Artigo
Título da fonte: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da FEI
Texto Completo: https://repositorio.fei.edu.br/handle/FEI/1480
Resumo: 1
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