Uma aplicação de ajuste de curva a um problema de nanociência

Detalhes bibliográficos
Autor(a) principal: Costa, Pedro Bastos
Data de Publicação: 2008
Outros Autores: Barbosa, Augusto César de Castro
Tipo de documento: Artigo
Idioma: por
Título da fonte: Repositório Institucional do INMETRO
Texto Completo: http://hdl.handle.net/10926/250
Resumo: Com o desenvolvimento das técnicas de medição e os aprimoramentos nos equipamentos utilizados para caracterização de materiais em escalas nanométricas, é de extrema importância a garantia na qualidade dos resultados desse tipo de ensaio. A utilização dos métodos conhecidos como EPI (Ensaio por Penetração Instrumentada) demanda estudos de forma a minimizar erros ou possíveis problemas que possam influenciar diretamente os resultados dos ensaios. Este trabalho tem por objetivo mostrar uma nova metodologia para minimizar a influência de uma dessas possíveis fontes de erro – a determinação da geometria dos penetradores em faixas de penetração menores que 200 nm –, através da aplicação de ajuste de curvas que melhor descrevam a geometria dos penetradores.
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