Uma aplicação de ajuste de curva a um problema de nanociência
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Data de Publicação: | 2008 |
Outros Autores: | |
Tipo de documento: | Artigo |
Idioma: | por |
Título da fonte: | Repositório Institucional do INMETRO |
Texto Completo: | http://hdl.handle.net/10926/250 |
Resumo: | Com o desenvolvimento das técnicas de medição e os aprimoramentos nos equipamentos utilizados para caracterização de materiais em escalas nanométricas, é de extrema importância a garantia na qualidade dos resultados desse tipo de ensaio. A utilização dos métodos conhecidos como EPI (Ensaio por Penetração Instrumentada) demanda estudos de forma a minimizar erros ou possíveis problemas que possam influenciar diretamente os resultados dos ensaios. Este trabalho tem por objetivo mostrar uma nova metodologia para minimizar a influência de uma dessas possíveis fontes de erro – a determinação da geometria dos penetradores em faixas de penetração menores que 200 nm –, através da aplicação de ajuste de curvas que melhor descrevam a geometria dos penetradores. |
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