Caracteriza????o de um dispositivo de ensaio para determina????o da camada semirredutora e da filtra????o com equival??ncia de qualidade de acordo com a norma ABNT NBR IEC 606001-1-3
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Data de Publicação: | 2012 |
Tipo de documento: | Dissertação |
Título da fonte: | Repositório Institucional do IPEN |
Texto Completo: | http://repositorio.ipen.br/handle/123456789/10138 |
Resumo: | A motiva????o deste trabalho foi o desenvolvimento e valida????o de um dispositivo para realizar os testes estabelecidos na ABNT NBR IEC 60601-1-3 nas vers??es publicadas de 2001[1] e 2011[2]. A finalidade dos ensaios ?? determinar a camada semirredutora - CSR (Half Value Layer - HVL) e a filtra????o com equival??ncia de qualidade, em mmAl, dos materiais que interceptam o feixe de raios X desde a sua emiss??o at?? o dispositivo receptor de imagem de raios X. Esta filtra????o inclui os materiais presentes no conjunto fonte de radia????o X, formado pela c??pula de prote????o radiol??gica com o tubo de raios X inserido, pelo sistema de colima????o (filtra????o inerente) e pelos materiais presentes nos suportes de pacientes, como mesa e bucky mural sendo que ambos incorporam dispositivo receptor de imagem que tamb??m ?? avaliado. No desenvolvimento foi levada em considera????o a rotina da execu????o do ensaio, com a finalidade de diminuir ao m??ximo a intera????o do operador com o sistema, a fim de reduzir o fator humano na execu????o, refletindo diretamente na incerteza de medi????o, na diminui????o do tempo de execu????o e na seguran??a radiol??gica. O dispositivo desenvolvido foi validado com rela????o aos seguintes aspectos: a) Influ??ncia do dispositivo trocador de filtros quanto ao posicionamento e distribui????o dos filtros; b) Influ??ncia da pureza dos filtros de alum??nio utilizados no dispositivo, e a c) Compara????o entre os ensaios realizados com dispositivo de ensaio desenvolvido com rela????o aos ensaios realizados com um gerador de raios X de refer??ncia. |
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